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TESCAN SOLARIS 超高分辨聚焦離子束顯微鏡(鎵離子)

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 TESCAN SOLARIS
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2023/8/18 11:46:08
  • 訪問次數(shù) 1049

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聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國上海,。 公司為用戶提供先進可靠的設(shè)備及,、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過程,,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù),。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個平臺,,以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,,技術(shù)方案為企業(yè)目標。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品,、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴,。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機,;離子束刻蝕機,ICP刻蝕機,,等

產(chǎn)品線豐富,,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,,氣質(zhì)聯(lián)用,,紫外分光光度計等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,,光學(xué)輪廓儀,,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,,

實驗室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測量儀
Wafer 粗糙度檢測
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測試
掃描探針顯微鏡
臺式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測試
離子減薄機

 

原子力顯微鏡,,摩擦磨損試驗機,超景深顯微鏡,,鍍膜機

(電子光學(xué)系統(tǒng))發(fā)射源 0.6 nm @ 15 kV (電子光學(xué)系統(tǒng))分辨率 肖特基場發(fā)射源Kv
(電子光學(xué)系統(tǒng))視野范圍 4.3 mm @ WD=5 mmμm (電子光學(xué)系統(tǒng))探針電流 ~ 400 nAμA~nA
(離子光學(xué)系統(tǒng))發(fā)射源 鎵液態(tài)金屬離子源/ (離子光學(xué)系統(tǒng))分辨率 2.5 nm @ 30 keVKv
(離子光學(xué)系統(tǒng))視野范圍 1 mmμm (離子光學(xué)系統(tǒng))探針電流 <1 pA ~ 100 nApA~ μA
產(chǎn)地 進口 價格區(qū)間 1000萬-1500萬
儀器分類 FIB-SEM

新一代超高分辨聚焦離子束顯微鏡(鎵離子)TESCAN SOLARIS 是一款鎵離子源的 FIB-SEM 系統(tǒng),,適用于超薄 TEM 樣品制備和其它具有挑戰(zhàn)性的納米加工任務(wù),這些任務(wù)要求設(shè)備具有高分辨率,、*進的離子光學(xué)系統(tǒng)和好的納米加工能力,。

TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 SEM 鏡筒具有超高的分辨率,特別是在低電壓下,;鏡筒內(nèi)探測器系統(tǒng)具有電子信號過濾能力,,為獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度翻開了全新的篇章。TESCAN SOLARIS 的 Orage™ 型 FIB 鏡筒保證了出色的低電壓離子束分辨率和微加工性能,,可以滿足制備小于 20 nm 的半導(dǎo)體器件超薄 TEM 樣品的需要,。此外,高達 100 nA 的大離子束流可以對生物樣品和材料進行對應(yīng)位置的,、大體積 FIB-SEM 逐層掃描,,圖像也具有出色的襯度,。

TESCAN SOLARIS 使用了全新的 Essence™ 軟件,軟件用戶界面友好,,可以滿足各類應(yīng)用需求,,可定制的軟件布局以及自動化的樣品制備功能,大限度地提升了操作便捷性和工作效率,。


新一代超高分辨聚焦離子束顯微鏡(鎵離子)TESCAN SOLARIS Ga FIB-SEM 突出特點:

1. 可選擇性采集能量過濾后的電子信號,,獲得更好的表面靈敏度和襯度

2. 離子束流變化范圍大,滿足不同精度,、體積要求的樣品加工任務(wù)

3. 電壓可達 500 eV,,能夠獲得小于 20 nm 且具有*品質(zhì)的超薄 TEM 樣品

4. FIB-SEM 層析成像的同時,可獲得 EDS 和 EBSD 數(shù)據(jù),,快速進行 3D 超微結(jié)構(gòu)研究和微量分析表征


TESCAN SOLARIS Ga FIB-SEM 主要優(yōu)勢:

* 成像能力

新一代 Triglav™ 鏡筒中的鏡筒內(nèi)探測器系統(tǒng)經(jīng)過進一步優(yōu)化,,信號檢測效率提高了三倍以上。此外,,該系統(tǒng)還擴展了檢測能力,,能夠采集能量過濾后的軸向背散射電子信號,通過選擇性地收集低損耗背散射電子來獲得更好的襯度和表面靈敏度,。

* 樣品制備質(zhì)量

Orage™FIB 鏡筒采用*進的離子光學(xué)設(shè)計,,在整個電壓范圍內(nèi)均可以保證好的分辨率,同時還可以提供多種樣品制備條件,。低電壓下的出色性能使得該 FIB 鏡筒可以執(zhí)行挑戰(zhàn)性的納米加工任務(wù),,它可以在低電壓下完成拋光并獲得小于 20 nm 且具有*品質(zhì)的超薄 TEM 樣品。

* 增強的表面靈敏度,、襯度

新一代 Triglav™ 鏡筒具有電子信號選擇檢測功能,,這一功能可以幫助用戶獲得更好的表面靈敏度并能夠獲得不同的襯度。圖像中可以體現(xiàn)形貌或是材料成分,,也可以同時體現(xiàn)這兩者,,以便用戶能夠在短時間內(nèi)較大限度地觀察樣品。

* 制備各類樣品

Orage™ 鏡筒能夠產(chǎn)生高達 100 nA 的離子束流,,同時保證離子束的質(zhì)量,。因此,無論是在低離子束流下制備精密的納米結(jié)構(gòu),,還是利用高離子束流以滿足大體積蝕刻的要求,,Orage™ 鏡筒的多功能性都可以滿足該類應(yīng)用需求。

* 保證分析條件

新一代 Triglav™ 鏡筒還具有自適應(yīng)束斑優(yōu)化功能,,可以提高了大束流下的分辨率,,這一特點有利于更好的進行 EDS、WDS 和 EBSD 等分析,。此外,,肖特基場發(fā)射電子槍能夠產(chǎn)生高達 400 nA 的電子束流,,電壓也可以快速改變并保證在所有的分析應(yīng)用下都能夠獲得良好的信號;在進行大離子束流加工時,,也可針對不導(dǎo)電試樣進行電荷中和,。

* 更充分的利用離子束

快速、高效,、高性能的氣體注入系統(tǒng)(GIS)對于所有 FIB 應(yīng)用都是需要的,。新一代 OptiGIS™ 單支氣體注入系統(tǒng)具備了所有的這些特性,TESCAN SOLARIS 可配備多達 6 支 OptiGIS,。您也可以選擇集成了 5 支同軸噴嘴的氣體注入系統(tǒng),,實現(xiàn)更多樣化的功能。此外,,我們還可以提供不同的特殊氣體和實用的平面IC去層方案,。

* 快速三維分析功能

新型強化的鏡筒內(nèi)探測系統(tǒng)結(jié)合高達 100 nA 的大離子束流,可實現(xiàn)快速數(shù)據(jù)采集,,用于 3D 超微結(jié)構(gòu)研究和 3D 微量分析表征。在 FIB-SEM 層析成像過程中,,能夠同時獲得 EDS 和 EBSD 數(shù)據(jù),,并通過專用軟件進行三維重構(gòu),為生命科學(xué)或納米材料研究者提供*的視角和結(jié)果,。

* 輕松實現(xiàn)高精度和好的 FIB 性能

Orage™ 型 FIB 鏡筒配有超穩(wěn)定的高壓單元和精確的壓電驅(qū)動光闌變換器,,可在 FIB 預(yù)設(shè)的參數(shù)上快速且高精度的重復(fù)切換。 此外,,半自動的束斑優(yōu)化向?qū)г试S用戶輕松選擇合適的束斑,,優(yōu)化特定應(yīng)用下的 FIB 條件。



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