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晶錠方阻電阻率測(cè)試儀
- 公司名稱(chēng) 九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/6/26 10:16:52
- 訪問(wèn)次數(shù) 611
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專(zhuān)注于非接觸式半導(dǎo)體計(jì)量分析技術(shù)的開(kāi)發(fā)和生產(chǎn) ,,攻克被國(guó)外卡脖子技術(shù)。
產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體,、光伏,、科研以及平板材料測(cè)試領(lǐng)域。借助公司*計(jì)量分析測(cè)試技術(shù),,為晶圓,、碳化硅、硅片,、封裝測(cè)試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控,,提供一整套完整測(cè)試和解決方案。
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一、
晶圓電阻率測(cè)試儀
硅片方阻測(cè)試儀
渦流法低電阻率分析儀
晶錠電阻率分析儀
樣品尺寸:2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品,;
遷移率測(cè)量范圍:100-20000(cm2/v.sec),;
方塊電阻測(cè)量范圍:100-3000(ohm/sq);
載流子面密度測(cè)量范圍:1E11-1E14(cm-2),;
電磁鐵磁場(chǎng)強(qiáng)度:1.0T
探頭線(xiàn)圈直徑:15mm