ZS920動態(tài)光散射納米粒度儀及zeta電位分析儀原理：

當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時,，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移,，導致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關(guān),，而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小,，顆粒大布朗運動速度低，反之顆粒小布朗運動速度高,，因此動態(tài)光散射技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強隨時間的漲落規(guī)律,，使用光子探測器在固定的角度采集散射光，通過相關(guān)器進行自相關(guān)運算得到相關(guān)函數(shù),，再經(jīng)過數(shù)學反演獲得顆粒粒徑信息,。

ZS920動態(tài)光散射納米粒度儀及zeta電位分析儀性能特點：

1、高效的光路系統(tǒng)：采用固體激光器和一體化光纖技術(shù)集成的光路,，充分滿足空間相干性的要求,，極大地提高了散射光信號的信噪比。

2,、高靈敏度光子探測器：采用計數(shù)型光電倍增管或雪崩光電二極管,，對光子信號具有*的靈敏度和信噪比； 采用邊沿觸發(fā)模式對光子進行計數(shù),，瞬間捕捉光子脈沖的變化,。

3、大動態(tài)范圍高速光子相關(guān)器：采用高,、低速通道搭配的結(jié)構(gòu)設計光子相關(guān)器,，有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾，實現(xiàn)了大的動態(tài)范圍,，并保證了相關(guān)函數(shù)基線的穩(wěn)定性,。

4、高精度溫控系統(tǒng)：基于半導體制冷技術(shù),，采用自適應PID控制算法,，使樣品池溫度控制精度達±0.1℃。

5,、數(shù)據(jù)篩選功能：引入分位數(shù)檢測異常值的方法,，鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù)，并剔除異常值,，提高粒度測量結(jié)果的準確度,。

6、優(yōu)化的反演算法：采用擬合累積反演算法計算平均粒徑及多分散系數(shù),，基于非負約束正則化算法反演顆粒粒度分布,，測量結(jié)果的準確度和重復性都優(yōu)于1%。

zeta電位分析儀測量：

Zeta電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標zeta電位愈高，顆粒間的相互排斥力越大,，膠體體系愈穩(wěn)定,， 因此通過電泳光散射法測量zeta電位可以預測膠體的穩(wěn)定性。

原理：

帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運動,，單位電場強度下的電泳速度定義為電泳遷移率,。顆粒在電泳遷移時，會帶著緊密吸附層和部分擴散層一起移動,，與液體之間形成滑動面,，滑動面與液體內(nèi)部的電位差即為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循 Henry方程,，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位,。

zeta電位分析儀性能特點：

1.利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路，替代傳統(tǒng)電泳光散射的分立光路,，使參考光和散射光信號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的G擾，有效地提高了信噪比和抗干擾能力,。

2.先對散射光信號進行頻譜預分析,，獲取需要細化分析的頻譜范圍，然后在窄帶范圍內(nèi)進行高分辨率的頻譜細化分析,，從而獲得準確的散射光頻移,。

3.基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度,，獲得準確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值,，再利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達式，進而有效提高了zeta電位的計算精度,。

4,、Henry函數(shù)的取值：

當雙電層厚度遠遠小于顆粒的半徑，即ka>>1,，Henry函數(shù)近似為1.5,。雙電層厚度遠遠大于顆粒半徑時，即ka<<1,，Henry函數(shù)近似為1.0,。使用最小二乘曲線擬合算法對Wiersema計算的精確Henry函數(shù)值進行擬合， 得到優(yōu)化Henry函數(shù)表達式,。

5,、強大易用的控制軟件：

ZS-920系列儀器的控制軟件具有納米顆粒粒度和zeta電位測量功能，一鍵式測量,，自動調(diào)整散射光強,， 無需用戶干涉，自動優(yōu)化光子相關(guān)器參數(shù)，以適應不同樣品,，讓測量變得如此輕松,。控制軟件更具有標準化操作(SOP)功能,，讓不同實驗室,、不同實驗員間的測量按照同一標準進行，測量結(jié)果更具有可比性,。測量完成自動生成報表,，以可視化的方式展示測量結(jié)果，讓測量結(jié)果一目了然,。