用于故障分析和大型樣品研究的納米計量工具
作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器,，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯誤的存在,。Park NX20,，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數(shù)據(jù)準確性,，在半導體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚,。

*大全面的分析功能
Park NX20可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因，并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案,。優(yōu)秀的精密度為您帶來高分辨率數(shù)據(jù),，讓您能夠更加專注于工作。與此同時,，真正非接觸掃描模式讓探針尖頭更鋒利,、更耐用，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢,。,。

即便是第一次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作
ParkNX20擁有業(yè)界最為便捷的設(shè)計和自動界面，讓你在使用時無需花費大量的時間和精力,，也不用為此而時時不停的指導初學者,。借助這一系列特點，您可以更加專注于解決更為重大的問題,，并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告,。

樣品側(cè)壁三維結(jié)構(gòu)測量
NX20的創(chuàng)新架構(gòu)讓您可以檢測樣品的側(cè)壁和表面，并測量它們的角度,。眾多的功能和用途正是您的創(chuàng)新性研究和敏銳洞察力所具備的,。

對樣品和基片進行表面光潔度測量
表面光潔度測量是Park NX20的關(guān)鍵應用之一，能夠帶來精確的失效分析和質(zhì)量保證,。

高分辨率電子掃描模式
QuickStep SCM
最快的掃描式電容顯微鏡
PinPoint AFM
無摩擦導電原子力顯微鏡

多種技術(shù)幫助顧客減少測試時間

· CrN樣品所做的針尖磨損實驗

通過對比重復掃描情況下探針尖頭的形狀變化,，您可以輕易看到Park的真正非接觸模式的優(yōu)勢所在。

· 最佳AFM測量

借助真正非接觸模式,，探針尖頭在掃描氮化鉻樣品（即探針檢測樣品）200次后仍可保持鋒利的狀態(tài),。氮化鉻的表面粗糙且研磨性強，會讓普通的探針很快變鈍,。

低噪聲Z探測器測量準確的樣品表面形貌
沒有壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌
超低噪聲Z探測器,，噪音水平低于0.02 nm,從而達到非常精準樣品形貌成像，沒有邊沿過沖無需校準,。Park NX20在為您提供好的數(shù)據(jù)的同時也為您節(jié)省了寶貴的時間,。
· 使用低噪聲Z探測器信號進行臺階形貌測量
· 在大范圍掃描過程中系統(tǒng)Z向噪音小于0.02 nm
· 沒有前沿或后沿過沖現(xiàn)象
· 終身無需校準，減少設(shè)備維護成本