日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100系列
- 公司名稱(chēng) 秋山科技(東莞)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2024/9/9 20:20:49
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日本農(nóng)業(yè)檢測(cè)儀器,、日本質(zhì)構(gòu)儀、日本光學(xué)儀器,、二手儀器,、測(cè)量?jī)x器、檢測(cè)儀器,、粉體儀器
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),冶金,制藥 |
日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100系列
使用軟X射線(軟X射線)的厚度計(jì)(膜厚度計(jì)),。以非接觸方式(軟X射線)測(cè)量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過(guò)直接與參考物質(zhì)比較來(lái)計(jì)算厚度和密度(基本重量),,而不是直接測(cè)量厚度,。
通常,為了測(cè)量片材的寬度方向上的厚度分布,,檢測(cè)系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進(jìn)行測(cè)量,。通常使用激光位移計(jì)作為不接觸地測(cè)量厚度的手段,但是如果將激光位移計(jì)安裝在掃描儀上,,則其傳送的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于激光位移計(jì)的精度,,從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測(cè)量是困難的,。
另一方面,,在諸如X射線厚度計(jì)之類(lèi)的通過(guò)透射衰減來(lái)估計(jì)厚度的方法中,測(cè)量了空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減,,但是由于樣品引起的衰減很大,。比空氣的厚度大,,運(yùn)輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化,并且影響很小,。因此,,可以高精度地進(jìn)行測(cè)量。
軟X射線測(cè)厚儀的一般功能
- 無(wú)需任命放射線處理負(fù)責(zé)人或X射線工作負(fù)責(zé)人,,也無(wú)需設(shè)置受控區(qū)域
(需要通知nao工標(biāo)準(zhǔn)檢查辦公室) - 路徑錯(cuò)誤可以忽略
- 高元素依賴(lài)性
與傳統(tǒng)的軟X射線測(cè)厚儀相比,,我們的軟X射線測(cè)厚儀的功能
- 檢測(cè)單元和X射線源單元結(jié)構(gòu)緊湊,重量輕,,甚至可以安裝在狹窄的地方,。
- 測(cè)量范圍廣(材料/厚度)
采用
- 銅箔,鋁箔,,不銹鋼箔
- 電池電極
- 陶瓷(薄板,,薄餅)
- 玻璃纖維布
日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100系列
X射線測(cè)厚儀SX-1100的規(guī)格 | |
物品 | 規(guī)格 |
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姓名 | X射線測(cè)厚儀SX-1100 |
測(cè)量方法 | X射線透射法 |
檢測(cè)方式 | 閃爍檢測(cè)器方法 |
被測(cè)物 | 根據(jù)測(cè)量目標(biāo)(如薄膜和箔紙)的z佳設(shè)計(jì) |
測(cè)量間距 | 標(biāo)準(zhǔn)2mm(可提供更細(xì)的間距) |
掃描寬度 | 標(biāo)準(zhǔn)150-3000mm(也可提供其他寬度) |
掃描速度 | 15-300毫米/秒(標(biāo)準(zhǔn)) |
框架結(jié)構(gòu) | O型等各種鏡框 |
光斑尺寸 | 約φ7.5mm(標(biāo)準(zhǔn))(工作時(shí)) |
X射線源 | 70 x 83毫米x 250毫米(標(biāo)準(zhǔn)) |
檢測(cè)單元 | 70 x 83毫米x 220毫米(標(biāo)準(zhǔn)) |
電源 | 100V單相1kVA |
? |
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