化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專(zhuān)用儀器>集成電路測(cè)試與分選設(shè)備>探針臺(tái)> 是德keysight N7700210C 晶圓探針臺(tái)TAP插件
是德keysight N7700210C 晶圓探針臺(tái)TAP插件
- 公司名稱(chēng) 湖南艾克賽普科技有限公司
- 品牌 KEYSIGHT/美國(guó)是德
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/2/19 15:39:33
- 訪問(wèn)次數(shù) 1200
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!
示波器,,電子負(fù)載,萬(wàn)用表,,數(shù)據(jù)采集記錄儀,,LCR測(cè)試儀,可編程電源,,電能質(zhì)量測(cè)試儀,,電池測(cè)試儀,網(wǎng)絡(luò)分析測(cè)試儀,,紅外熱 像儀,,頻譜分析儀,,振動(dòng)測(cè)試儀,紅外測(cè)溫儀,,光譜儀,,風(fēng)速儀,氣體測(cè)試儀,,信號(hào)發(fā)生器,,工業(yè)內(nèi)窺鏡,過(guò)程校準(zhǔn)儀,,絕緣測(cè)試儀,,邏 輯分析儀,汽車(chē)測(cè)試儀,,光纖熔接機(jī),,噪音測(cè)試儀,電磁測(cè)試儀,,光時(shí)域反射儀,,超聲波探傷儀,醫(yī)學(xué)檢測(cè)儀器,,涂鍍層測(cè)厚儀,,玩具測(cè) 試儀器,光學(xué)測(cè)試儀器,,精密分析天平,,高壓電力測(cè)試儀,色譜儀,,試驗(yàn)機(jī),,測(cè)試軟硬件方案,測(cè)試儀器系統(tǒng)集成
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池 |
---|
長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司是一家專(zhuān)注于儀器工控設(shè)備,、測(cè)試方案系統(tǒng)集成的高新技術(shù)科技企業(yè),。作為專(zhuān)業(yè)的儀器設(shè)備及測(cè)控集成ATE提供商,多年來(lái)堅(jiān)持自主研發(fā)創(chuàng)新,,結(jié)合引進(jìn)代理各大/品牌的優(yōu)質(zhì)儀器設(shè)備,,致力于提供更科學(xué)智能的軟硬件測(cè)試方案,廣泛應(yīng)用于科研行業(yè),、生命科學(xué),、醫(yī)學(xué)、化學(xué),、化工,、材料、環(huán)境、地質(zhì),、能源,、藥物、刑事偵查和其他相關(guān)領(lǐng)域,。
如有需求請(qǐng)致電,,我們將為您提供優(yōu)質(zhì)的測(cè)試方案。
了解更多產(chǎn)品和測(cè)試方案請(qǐng)?jiān)L問(wèn)艾克賽普網(wǎng)站,,歡迎聯(lián)系艾克賽普獲取終有效價(jià)格,!
是德keysight N7700210C 晶圓探針臺(tái)TAP插件
HIGHLIGHTS
全自動(dòng)的晶圓級(jí)和芯片級(jí)集成光電測(cè)試解決方案
在 TAP 測(cè)試序列中輕松集成晶圓探針臺(tái)控制程序
- 測(cè)試步驟可對(duì)光電探頭進(jìn)行定位和對(duì)準(zhǔn)
- 支持陣列/單光纖探頭、邊緣和表面耦合,、射頻/直流探頭以及靈活的探頭方向(東/西/南/北)
- 自動(dòng)器件步進(jìn)和探針臺(tái)狀態(tài)控制
- 測(cè)量測(cè)試計(jì)劃和器件數(shù)據(jù)管理(導(dǎo)入/導(dǎo)出/編輯器件坐標(biāo),、器件元參數(shù)和測(cè)試條件)
支持的晶圓探針臺(tái)
- Formfactor CM300xi 與 Velox 軟件和硅光工具
Keysight PathWave 測(cè)試自動(dòng)化平臺(tái)(TAP)是一款基于 Microsoft ./NET 的現(xiàn)代化應(yīng)用軟件,既可以獨(dú)立使用,,也可以與更高級(jí)的測(cè)試執(zhí)行軟件環(huán)境結(jié)合使用,。儀器插件所提供的測(cè)試步驟可以添加到工作流程序列中,并且無(wú)需使用儀器級(jí)的編程命令,。N7700210C 晶圓探針臺(tái)插件能夠控制與 Formfactor 半自動(dòng)探針臺(tái)硬件以及 Formfactor Velox 和硅光工具軟件的接口,,使自動(dòng)化測(cè)試變得更簡(jiǎn)單。在一個(gè)測(cè)試計(jì)劃中,,測(cè)試步驟可以完成晶圓卡盤(pán)移動(dòng)以及探頭定位和對(duì)準(zhǔn)等任務(wù),,并且可與儀器測(cè)試執(zhí)行步驟結(jié)合使用。測(cè)試步驟中還包括對(duì)晶圓探針臺(tái)定位設(shè)置,、射頻探頭和光探頭的簡(jiǎn)單配置,。
是德keysight N7700210C 晶圓探針臺(tái)TAP插件