全自動大樣品臺原子力顯微鏡

缺陷分析的佳選擇

作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測,。而儀器所提供的數據不能允許任何錯誤的存在,。Park NX20，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡,，憑借著出色的數據準確性,，在半導體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚。200mm樣品全尺寸自動測量,，無需人工操作,。

強大全面的分析功能

可快速幫助客戶找到產品失效的原因，并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案,。精密度為您帶來高分辨率數據,，讓您能夠更加專注于工作。與此同時,，真正非接觸掃描模式讓探針針尖更耐用,，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢。

即便是*接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作

ParkNX20擁有業(yè)界為便捷的設計和自動界面,，讓你在使用時無需花費大量的時間和精力,，也不用為此而時時不停的指導初學者。借助這一系列特點,，您可以更加專注于解決更為重大的問題,，并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告。

全自動大樣品臺原子力顯微鏡

為FA和研究實驗室提供形貌測量解決方案

缺陷檢查成像和分析

高分辨率電子掃描模式

對樣品和基片進行表面粗糙度測量

樣品側壁三維結構測量

低噪音Z探測器可準確測量AFM表面形貌

非接觸模式,，降低針尖磨損,，減少換探針時間

非接觸模式下的快速缺陷成像

業(yè)內三維結構測量的解耦XY掃描系統(tǒng)

通過使用熱匹配的組件，盡量減少系統(tǒng)漂移和遲滯現(xiàn)象

低噪聲Z探測器可準確測量AFM表面形貌

業(yè)界低噪聲Z檢測器測量樣品表面形貌

沒有過沿過沖和壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌

即使是高速掃描也可以保持準確的表面高度

行業(yè)前向和后向掃描間隙橫向漂移小于0.15%

全自動大樣品臺原子力顯微鏡

用真正的非接觸掃描方式節(jié)省成本

在一般用途和缺陷成像中,，具有普通掃描模式10倍或更長的針尖使用壽命減少針尖摩損

真實的再現(xiàn)樣品微觀三維形貌,，減少樣品在掃描過程中的損壞或變形。

行業(yè)低噪聲Z軸探測器

超低噪聲Z探測器,，噪音水平低于0.02nm,，從而達成非常樣品形貌成像，沒有邊沿過沖無須校準,。 NX20為您提供好的數據同時也為您節(jié)省寶貴的時間

真正非接觸模式™可保護針尖鋒利度

原子力顯微鏡的針尖本身很脆弱,，在掃描過程中，針尖磨損會逐漸降圖片質量和分辨率,。測量表面軟的樣品時,，針尖也會破壞樣品并生成不準確的樣品高度測量數據。作為Park原子力顯微鏡*的一種掃描模式,，真正非接觸模式™可持續(xù)獲得高分辨率且準確的數據,，同時保持針尖的完整性,。

全自動大樣品臺原子力顯微鏡NX20

凝聚著具創(chuàng)新的AFM技術

100 μm x100 μm掃描范圍的XY平板掃描器

XY平板掃描器，采用壓電堆棧設計,，減少傳統(tǒng)掃描過程中XY的正交影響,，具有高速的影響頻率，實現(xiàn)準確的樣品納米級掃描,。

高速Z軸掃描器,，掃描范圍達15μm

高強度壓電堆棧和饒性設計，標準Z軸掃描器的共振頻率大于9kHz(一般為10.5kHz)且探針的Z軸掃描速率不低于48mm/秒,。 Z軸大掃描范圍可從標準的15μm擴展至30μm(長范圍Z掃描頭),。

低噪聲XYZ位置傳感器

低噪聲XYZ閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。

集成編碼器的XY自動樣品載品

編碼器可用于所有自動樣品載臺,，并可保證更高的重復定位精度,，從而可更準確地控制樣品測量位置。XY馬達動工作時分辨率為1μm,，重復率為2μm,。Z馬達運動的分辨率為0.1μm，重復率為1μm,。

自動多點樣品掃描

借助驅動樣品臺,，可編程步進掃描，多區(qū)域成像,，以下是它的工作流程：

1.掃描成像

2.抬起懸臂

3.移動驅動平臺到設定位置

4.進針

5.重新設定位置掃描成像

該自動化功能大大減少掃描過程中人工的移動樣品,，從而縮短測試時間，提高生產率,。

操作方便的樣品臺

特殊的頭部設計,，可使用從側面操作樣品及探針，根據所選擇樣品臺的行程范圍,，用品在樣品臺上可放置的大樣品直徑200mm,。

用于拓展掃描模式易插拔擴展槽

你只需要將可選模塊插入擴展槽，便可激活拓展掃描顯微鏡模式,。得益于NX系列原子力顯微鏡的模塊化設計,，其產品線的配置兼容性大大提高

同軸高功率光學集成LED照明和CCD系統(tǒng)

掃描頭滑動嵌入式設計

你只需滑動嵌入燕尾導執(zhí)便可輕松更換原子力顯微鏡掃描頭。該設計可將掃描頭自動鎖定至預對準的位置,，無須調節(jié)激光位置,，激光自動投射在針尖上,。借助于鄉(xiāng)優(yōu)異的四象限檢測器,，顯微鏡可準確成像并可準確測定力，距離曲線,。

自動Z軸移動和聚焦系統(tǒng)

高度限行Z軸移動和聚焦系統(tǒng),，可以得到清晰的視野和圖像,，用戶通過軟件界面進行操作，由高精度步進電機驅動,，即使液體或者透明樣品也可快速找到樣品表面,。

高速24位數字電子控制器

所有NX系列的原子力顯微鏡都是由相同的NX電子控制器進行控制和處理。該控制器是個全數字,，24位高速控制器,，可確保True Non-ContactTM模式下的成像精度和速度。憑借著低噪音設計和高速處理單元,，該控制器也是納米成象和準確電壓,、電流測量的選擇。嵌入式數字信號處理為原子力顯微鏡帶來更為豐富的功能,，更好的解決方式,，是資深研究員的佳選擇。

XY.Z軸檢測器的24位信號分辨率

XY軸的小分辨率為0.003nm (50 μm XY掃描器)

Z軸的小分辨率為0.001nm (50 μm Z掃描器)

嵌入式數字信號處理功能

三個鎖相放大器

探針彈簧系數校準(熱方法)

數字化Q控制

集成式信號端口

可編程信號輸入/輸出端口

7個輸入端口和3個輸出端口

世界上容易操作的AFM

簡單的探針和樣品更換

*的設計讓您輕易地用手從側面更換新的探針和樣品,。借助安裝懸臂式探針夾頭中于預先校準的探針位置,，無須再進行繁瑣的激光調節(jié)工作。

帶有兩級反饋系統(tǒng)的閉環(huán)XY掃描器

XY掃平板掃描器的每個軸上的低噪聲位移傳應器,，可以在進行大掃描范圍時提高樣本掃描正交性,。次級傳感器會對非線性和非平面位置錯誤進行補償，真實的還原樣品的形貌,。

閃電般快速的自動進針

自動的探針樣品進針功能能讓用戶無需進行干預操作,。通過監(jiān)測懸臂接近表面的反應，Park NX20能夠在探針裝載后,，十秒內自動快速完成探針進針操作,。高速、軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號處理使得探針無需用戶干預就能快速接觸樣品表面,。

主動溫控隔音罩

專為Park NX20設計的隔音罩,，主動進行溫度調節(jié)功能，保證側試環(huán)境在一個*穩(wěn)定的熱環(huán)境中,。 Park NX20 還具有主動隔振功能,，*與外界的聲、光噪聲隔離,，因此測試的準確性將不受到外界干擾,。

操作簡單-創(chuàng)新的控制設計使Park NX20能夠快速達于溫度平衡

節(jié)省操作時間-關閉隔音罩10分鐘內可保持測試環(huán)境低于0.05°C的溫差