布魯克Bruker（原veeco）快速AFM Fastscan

Dimension FastScan——快速掃描原子力顯微鏡

掃描速度的全新詮釋,，擁有 高的掃描分辨率,， 優(yōu)異的儀器檢測性能

布魯克Bruker快速原子力顯微鏡Fastscan

在不損失Dimension  Icon 超高的分辨率和儀器性能前提下， 大限度的提高了成像速度,。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間,。

  為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求,，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力,，不增加設(shè)備復(fù)雜性,，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實(shí)現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng),，即時(shí)快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望,。當(dāng)您對樣品進(jìn)行掃描時(shí)，無論設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)為掃描速度> 125Hz,，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像,，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像?？焖賿呙柽@一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能,。

    高效率   

在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調(diào)節(jié)    和檢測器調(diào)節(jié),，智能進(jìn)針,，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。

自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)完美結(jié)合,，大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)  的可信度和可重復(fù)性,。

   高分辨率     

Fastscan 的力控制模式提高圖像分辨率的同時(shí)，延長了探針的使用壽命,。

掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像,，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。

低噪音,，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平,。

在任何樣品上均有表現(xiàn)

閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm,，具有超低的熱漂移率,，可得到超高分辨的真實(shí)圖像。

Fast Scan可以對不同樣品進(jìn)行測量,，保證高度從埃級到100多納米的樣品高精度無失真掃描,。

布魯克Bruker快速原子力顯微鏡Fastscan

將掃描速度,、分辨率、 度和噪音控制完美結(jié)合的AFM,，真正實(shí)現(xiàn)了快速掃描原子力顯微鏡的商業(yè)化應(yīng)用,。為了實(shí)現(xiàn)AFM掃描速度變革性的提升，Bruker的工程師致力于AFM技術(shù)的改造和完善,。

 采用 低熱漂移的針尖掃描AFM技術(shù),，提高了系統(tǒng)的固有振動頻率。

 應(yīng)用新的NanoScope控制器,，為機(jī)器提供了更高的帶寬,。

 開發(fā)了小懸臂的生產(chǎn)工藝，在空氣中共振頻率為1.3MHz,，在液體中共振頻率為250KHz到500KHz,。

 采用了低噪音的機(jī)械和電子的主要部件，結(jié)合高共振頻率X-Y-Z掃描管,，在技術(shù)上獲得了重大突破。

 更高的帶寬提供了 的力控制和高掃描速度,，結(jié)合高精度的閉環(huán)控制,，在效率上遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其它任何商業(yè)化的AFM,。

 以20Hz掃描速度進(jìn)行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高,，即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會降低。

 在ScanAsyst模式中,，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片,，即使掃描速度達(dá)到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片,。

 Z方向,，探針在Contact模式中移動速度可達(dá)到12mm/s,，同時(shí)在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動速度達(dá)到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%,，真正使Fastscan成為了快速掃描AFM,。

自動的激光和檢測器的調(diào)節(jié)使得實(shí)驗(yàn)的組建更為快速有效,。

系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO，利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級的樣品特征,。

 新的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針,，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下,，得到 好的激光信號調(diào)節(jié)。

針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與210mm大尺寸樣品臺結(jié)合,，消除了樣品尺寸的限制，同時(shí)維持了 低的噪音和熱漂移水平,。

布魯克Bruker快速原子力顯微鏡Fastscan

  Dimension FastScan AFM的分辨率,，與Bruker*的電子掃描計(jì)算方法相結(jié)合，提供給用戶顯著提升的測量速度與質(zhì)量,。Dimension Icon是針尖掃描技術(shù)的 新革新,，配置了溫度補(bǔ)償位置傳感器，展現(xiàn)出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平,，這個(gè)驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺,，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平,。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計(jì)也能展現(xiàn)較高掃描速度,，而不損壞圖像質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量,。Icon 掃描管比當(dāng)今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的 度,。這種革新與新的 掃描和下針?biāo)惴ㄏ嘟Y(jié)合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果,。

杰出的生產(chǎn)力

  使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠(yuǎn)比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多,。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個(gè)標(biāo)志性的符號。FastScan把此平臺引入了新水平,，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測量結(jié)果,。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往 *的AFM技術(shù)更加簡便,?？梢允钩鯇W(xué)者在操作中，同樣得到專家級的圖像,。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果,，而無需像以前一樣通常需要幾小時(shí)的專業(yè)調(diào)整。Dimension FastScan的每個(gè)方面—從*開放式針尖樣品空間,，到預(yù)存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)以求達(dá)到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性,。每分鐘低于200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面,，世界聞名的Dimension AFM平臺,，三者結(jié)合提供了AFM儀器性能，保證您在 短時(shí)間內(nèi)得到測試結(jié)果并發(fā)表出版,。

世界上 靈活的平臺 

  Dimension FastScan 展現(xiàn)出的性能,，堅(jiān)固性和靈活度,，使得這臺儀器實(shí)現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺,，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能,，將AFM強(qiáng)大的功能*展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn),。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升,，以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué),、電學(xué)和電化學(xué)附件,。

性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要

出眾的性能滿足各種應(yīng)用需求

  Dimension FastScan可同時(shí)高速捕捉多個(gè)通道的數(shù)據(jù)，獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù),。結(jié)合我們Bruker的很多AFM 技術(shù),，模式和模式增強(qiáng)功能，Dimension FastScan以其*的性能優(yōu)勢,，幫助您完成更高水平的納米研究,。

材料成像 

  FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的 PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描管的情況下可進(jìn)行納米力學(xué)成像,。使用FastScan技術(shù),，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時(shí)間。

    納米操縱 

  可實(shí)現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕,。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應(yīng),，大大提高了操縱的 度。同時(shí)超低噪音的精密探針的準(zhǔn)確定位,，適用于任何納米操作系統(tǒng),。

加熱和冷卻 

  在以各種AFM 模式掃描的同時(shí)可實(shí)現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的 控制和熱分析,。另外還可使用熱探針對低于100nm的局部加熱到500℃,。

    電學(xué)表征 

  使用 的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動態(tài)范圍上實(shí)現(xiàn)電學(xué)表征,。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了*的電學(xué)表征方法,，同時(shí)還可以與樣品上的力學(xué)屬性相聯(lián)系。

  利用 短時(shí)間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果

  無論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章,，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業(yè) 的數(shù)據(jù)測量和高質(zhì)量AFM圖片,。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運(yùn)用簡易方法對大量數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的處理分析。

    樣品篩選

  利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信,，進(jìn)行樣品常規(guī)篩選,。無論是材料生產(chǎn)中進(jìn)行失效分析或納米級的質(zhì)量控制，及時(shí)的產(chǎn)品信息反饋是*的產(chǎn)品質(zhì)量控制過程,。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時(shí),，成為*條件,。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對其中的非晶藥物成分進(jìn)行篩選，這可能成為FastScan的一個(gè)新用途,。

動態(tài)應(yīng)用范例

  另一種常見的應(yīng)用是觀察一個(gè)納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下,，隨著時(shí)間產(chǎn)生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中,，對納米尺度的動態(tài)變化觀察都是研究價(jià)值的,。Dimesion FastScan為這種實(shí)驗(yàn)提供了極為便利的條件。