校準(zhǔn)標(biāo)樣

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 八帆儀器設(shè)備（上海）有限公司
品牌 其他品牌
型號
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
更新時(shí)間 2021/3/7 15:52:23
訪問次數(shù) 715

產(chǎn)品標(biāo)簽

校準(zhǔn)標(biāo)樣高分辨率校準(zhǔn)標(biāo)樣

在線交流發(fā)送詢價(jià) 查看電話同類產(chǎn)品

聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹 主營產(chǎn)品

八帆儀器設(shè)備（上海）有限公司是創(chuàng)建于2017年,，是集測試測量,、研發(fā)、生產(chǎn),、銷售,、服務(wù)為一體的高科技公司，亞太區(qū)總部位于中國上海,。并在北京設(shè)立辦事處,。八帆儀器設(shè)備（上海）有限公司致力于代理和應(yīng)用*成熟的測試測量儀器及技術(shù)，應(yīng)用于材料,，物理,，光學(xué)，化學(xué),，生物等領(lǐng)域,。同時(shí)與國內(nèi)外研發(fā)機(jī)構(gòu)合作研究開發(fā)高精密測試測量技術(shù)及設(shè)備定制。有各*機(jī)構(gòu)的技術(shù)支持,，匯集有行業(yè)的精英技術(shù)團(tuán)隊(duì),，負(fù)責(zé)產(chǎn)品及方案設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制造,、售前售后服務(wù),。

展開

原子力顯微鏡，原子力拉曼,，有機(jī)合成質(zhì)譜儀,，制備色譜，納米紅外光譜儀,，掃描近場光學(xué)顯微鏡,，電鏡下原子力，微米級3D打印機(jī),，

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

高分辨率校準(zhǔn)標(biāo)樣:綜述

Applied Nanotools為高分辨率應(yīng)用提供X射線,，EUV和可見光顯微鏡的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。這些高質(zhì)量的光學(xué)元件包括各種校準(zhǔn)元件,，可在以下SEM圖像中看到：

ANT Design

ANT校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)用于具有納米級特征的X射線成像系統(tǒng)的高分辨率要求,。適用于軟X射線和硬X射線機(jī)制以及光學(xué)設(shè)置。

Nested Ls

嵌套的Ls或彎頭允許高分辨率測量,，保證間距和效率,。在高分辨率標(biāo)準(zhǔn)下低至15 nm半間距,。

Siemen star

該圖案允許校準(zhǔn)和準(zhǔn)確比較X射線與其他成像方法的光學(xué)分辨率。

NanoUSAF 1951

Applied Nanotool的定制設(shè)計(jì)NanoUSAF 1951基于USAF 1951設(shè)計(jì),，但具有納米而非微米的特征

校準(zhǔn)標(biāo)樣價(jià)格列表

Device	Base Price
Ultra-High Resolution Soft X-Ray Calibration Standard (70 nm Au) (15 nm half pitch)	USD $5000
Soft X-Ray Calibration Standard (200 nm Au) (20 nm half pitch or better)	USD $4500
Hard X-Ray Calibration Standard (>600 nm Au) (25 nm half-pitch or better)	USD $6000
Features Include: • Nested L’s • Siemen star patterns (large and small) • Varying pitch gratings and meshe • Nano USAF 1951
Customization	Extra Fee
• Custom Logo (Max 50 µm 2 area)	$1000
• Low stress 50 nm silicon nitride membrane	$2000
• Low stress 100 nm silicon carbide membrane	$2500
• Fused Silica Substrate (~500 um thick) Chrome metal on glass (positive tone-only)	$2500
Negative polarity (features transparent) • 30 nm minimum feature size (soft X-ray) • 50 nm minimum feature size (hard X-ray)	$1250
• Custom chip sizes	Contact us

定制膜/基材

校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)在標(biāo)準(zhǔn)的5 mm x 5 mm框架上于堅(jiān)固的低應(yīng)力氮化硅膜上制造,。熔融石英基板可用于具有鉻特征的光學(xué)顯微鏡。

校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)在標(biāo)準(zhǔn)的5 mm x 5 mm框架上于堅(jiān)固的低應(yīng)力氮化硅膜上制造,。

熔融石英基板可用于具有鉻特征的光學(xué)顯微鏡

定制設(shè)計(jì)

定制設(shè)計(jì)可添加具有高分辨率功能的設(shè)施徽標(biāo)（建議小元件尺寸為50 nm）,。必須以GDSII，EPS或矢量格式提供圖形以獲得佳分辨率,。如果您需要有關(guān)徽標(biāo)提交的幫助,，請與我們聯(lián)系。

高分辨率ANT徽標(biāo),，20納米特征,，電鍍至200納米

總體布局

注：終設(shè)計(jì)可能不*如圖所示。

校準(zhǔn)標(biāo)樣

公司介紹 主營產(chǎn)品