光學(xué)元件面型測量儀
- 公司名稱 先鋒科技(香港)股份有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/3/19 8:03:48
- 訪問次數(shù) 3627
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光譜相關(guān)產(chǎn)品,,激光與測量系統(tǒng),影像采集,,光度色度儀器,,探測器產(chǎn)品,氣體傳感器,,光學(xué)元件等光電產(chǎn)品
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶 |
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Kaleo MultiWave 是一臺(tái)多波長工作的光學(xué)元件面形測試系統(tǒng),,用于替代昂貴、低效,、操作復(fù)雜的干涉儀,,測量光學(xué)元件的表面面形、透過波差等參數(shù),。
Kaleo MultiWave 通過單次測量即可提供完整的3-D形貌及非平面元件的曲率,。所有表面質(zhì)量參數(shù)尊崇ISO 10110標(biāo)準(zhǔn)。表面不規(guī)則,,粗糙度以及波紋亦可測試,。
Kaleo MultiWave*的多波長測試功能可以在光學(xué)元件設(shè)計(jì)的工作波長進(jìn)行測試,,從而對(duì)光學(xué)元件基底、鍍膜獲得完整的評(píng)價(jià),。儀器具備和傳統(tǒng)干涉儀同等的精度,,同時(shí)具備更大的動(dòng)態(tài)范圍以測試復(fù)雜面形的光學(xué)元件。測試以雙程模式工作,,兼容透射與反射測量,。
多波長干涉儀:
同一機(jī)臺(tái),多個(gè)波長
標(biāo)配:625nm - 780nm - 1050nm
可選:UV - 400nm - 1100nm - 短波紅外
高動(dòng)態(tài)范圍:
> 20um PV
高度畸變波前測試
高精度:
精度與干涉儀同等
高重復(fù)度,,低噪聲
高性價(jià)比的干涉儀解決方案
規(guī)范:
遵從ISO 5725 標(biāo)準(zhǔn)
兼容MetroPro 格式
兼容 ISO 10110 格式
用途:
表面面形測試
鍍膜(AR,,介質(zhì)膜,金屬膜測試......)
窗片,,干涉濾光片測試
透鏡,,非平面鏡測試
應(yīng)用:
光學(xué)元件研發(fā)制造
濾光片及窗片制造
空間及防務(wù)
汽車工業(yè)
激光器及其應(yīng)用
光學(xué)元件面型測量儀KALEO MultiWave技術(shù)指標(biāo):
光路結(jié)構(gòu) | 雙通路 |
標(biāo)準(zhǔn)配置波長 | 625, 780, 1050nm |
可選波長 | 400 - 1100nm,UV, IR |
有效口徑 | 130mm |
可重復(fù)性 (ISO 5725) | < 5nm rms |
可再造性 (ISO 5725) | <7nm rms |
動(dòng)態(tài)范圍 (失焦), RWE | 10um PV |
動(dòng)態(tài)范圍 (失焦), TWE | 200nm rms |
精度 (RWE) | <80nm rms |
精度 (TWE) | <20nm rms |
光學(xué)元件面型測量儀KALEO MultiWave測試實(shí)例:
與Fizeau干涉儀測試結(jié)果的比較
NBP-780濾光片測試,。二者測量RWE的偏差小于40nm P-V
非球面鏡3-D面形
單次測量,,無需空白透鏡,??赏ㄟ^扣除理想曲面得知面形殘余誤差,從而獲知非球面鏡的加工質(zhì)量,。
產(chǎn)線設(shè)備監(jiān)控
通過對(duì)塑料,、樹脂模壓光學(xué)元件的直接測試,實(shí)時(shí)獲知加工效果,,對(duì)模具狀態(tài),、工件調(diào)整精度等作出實(shí)時(shí)評(píng)價(jià)。