LED積分球測(cè)試系統(tǒng)詳細(xì)介紹

一、LED積分球測(cè)試解決方案

如下圖所示,，為LED光源積分球測(cè)試系統(tǒng)示意圖,。

積分球尺寸25cm、50cm,、1m,、2m、3m,，內(nèi)壁采用的,，在紫外-可見(jiàn)-近紅外具有高達(dá)97%漫反射率的涂層，且在250-2500nmzui為有效,。

LED光源放置在積分球內(nèi)部4Pi支柱上或球壁2Pi位置進(jìn)行測(cè)量,，經(jīng)過(guò)積分球均勻化后，經(jīng)過(guò)光纖傳輸?shù)竭_(dá)光譜儀進(jìn)行分光,。

進(jìn)一步通過(guò)軟件得到LED光源的光學(xué)和顏色特性：總光譜輻射通量（W/nm）,、輻射通量（W）、光通量（lm）,、光效,、光譜強(qiáng)度,、色品坐標(biāo)、色溫（CCT）,、顯色指數(shù)（CRI）,、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng),、色純度、半高帶寬（FHWM）,、光譜功率分布等,。

光通量標(biāo)準(zhǔn)燈和吸收標(biāo)準(zhǔn)燈（輔助燈）用于整個(gè)系統(tǒng)的校準(zhǔn)。

用戶可自行進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)和驗(yàn)證,，無(wú)須將整套系統(tǒng)返廠校正,。

測(cè)試結(jié)果直接溯源至NIST標(biāo)準(zhǔn)，保證測(cè)試結(jié)果的高度準(zhǔn)確,。

生成Excel版測(cè)試報(bào)告,，用戶可以自定義語(yǔ)言及報(bào)告界面格式。

系統(tǒng)主要組成及描述：

※ 其他可選：電學(xué)模塊,，壞境溫度控制模塊,、升級(jí)模塊等。

注：1,、積分球漫反射率必須足夠高,，覆蓋較寬的波長(zhǎng)范圍，性能可靠穩(wěn)定,，材料均勻性好,，性能一致（針對(duì)LED等方向性強(qiáng)的光源進(jìn)行測(cè)量的結(jié)果,，光通量誤差應(yīng)小于±3%），平穩(wěn)的光譜反射率特性,，涂料經(jīng)久耐用,、不脫落，不易變黃,，易清理,，可保證至少10年的可靠使用壽命，涂料無(wú)污染,、無(wú)異味,，不潮解。

2,、積分球系統(tǒng)必須采用標(biāo)準(zhǔn)燈對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn),。標(biāo)準(zhǔn)燈必須具有高穩(wěn)定性和高重復(fù)性,，須在IESNA的推薦導(dǎo)則下進(jìn)行篩選,、老化和校準(zhǔn)，以保證其zui高精度,，溯源可至NIST,。

3、積分球體敏感度比較大,，対自吸收效果更加敏感,。通常待測(cè)燈的大小及形狀與標(biāo)準(zhǔn)燈的大小和形狀并非*一致，積分球系統(tǒng)必須安裝吸收標(biāo)準(zhǔn)燈,，進(jìn)行自吸收校正,。吸收標(biāo)準(zhǔn)燈在整個(gè)自吸測(cè)量過(guò)程中，燈光放射量必須穩(wěn)定,。

4,、積分球必須一次成型，以保證積分球球體的圓度,，無(wú)對(duì)接焊點(diǎn),，以使內(nèi)部涂層更均勻。積分球的探測(cè)口必須是一個(gè)平坦的擴(kuò)散體,，與球體涂層表面齊平安裝,，使光譜分析儀的檢測(cè)端口輸入一個(gè)滿足CIE要求的近余弦響應(yīng)。

二,、紫外（UV）LED測(cè)試解決方案

紫外（UV）LED測(cè)試是目前業(yè)界的一個(gè)難題,，同樣，針對(duì)紫外（UV）LED的積分球測(cè)試系統(tǒng)也面臨著諸多問(wèn)題需要解決,，須具備更高的可靠性,。例如,，用于系統(tǒng)校正的紫外標(biāo)準(zhǔn)燈很難制作，紫外輻射通量的大小,，以及光譜范圍的要求,；紫外（UV）積分球測(cè)試系統(tǒng)自身的積分球涂料不可以有紫外的熒光效應(yīng)，這一點(diǎn)國(guó)內(nèi)的涂料無(wú)法滿足,，其次要保證涂層在紫外的照射下不能迅速老化等等,。

美國(guó)Labsphere的紫外（UV）LED積分球測(cè)試系統(tǒng)有效的解決了上述諸多問(wèn)題，并且可根據(jù)用戶進(jìn)行定制,。該系統(tǒng)可溯源至NIST（美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局）,，確保測(cè)試結(jié)果的高度準(zhǔn)確。

系統(tǒng)特點(diǎn)：

光譜輻射通量（W/nm）,、總光譜輻射通量（W）測(cè)試,，波長(zhǎng)下限可達(dá)220nm；

整個(gè)測(cè)試范圍（220-850nm）均可溯源至NIST（美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局）,；

可溯源至NIST的紫外（UV）光譜輻射通量標(biāo)準(zhǔn)燈,，用于系統(tǒng)校正；

先進(jìn)雜散光修正技術(shù),，低的暗噪聲以及高度,；

220-850nm，也適用于測(cè)試可見(jiàn)（VIS）與近紅外（NIR）LED,。