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安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2024/1/27 21:59:59
  • 訪問次數(shù) 1484

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深圳市新瑪科技有限公司致力于電子測試測量領(lǐng)域為客戶提供的測試和高效的解決方案和全面的系統(tǒng)服務(wù),,提供通用測試產(chǎn)品,,示波器,、邏輯分析儀,、信號源,、交流,、直流電源,、數(shù)據(jù)采集器,、交流、直流電子負(fù)載儀和頻譜分析儀,、安規(guī)測試,、 電能質(zhì)量分析儀以及數(shù)字萬用表,、功率分析儀,、熱成像儀,、絕緣電阻測試儀,。包括全套電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,,專業(yè)提供電磁兼容測試系統(tǒng),,電磁干擾EMI抗干擾EMS診斷系統(tǒng),,并提供專家級的技術(shù)和咨詢服務(wù)。為各個工業(yè)領(lǐng)域提供創(chuàng)新服務(wù)模式涵蓋測試儀器銷售,、 計量校準(zhǔn),、維修維護(hù)以及面向企業(yè)級客戶端的系統(tǒng)集成服務(wù),產(chǎn)品覆蓋通信,、工業(yè)電子制造,、新能源、微電子,、 航空航天,,科研院所大學(xué)等行業(yè), 我們嚴(yán)格遵循以合格的產(chǎn)品去服務(wù)于客戶,,幫助客戶選擇適合的解決方案,。

隨著中國市場越來越多的進(jìn)口設(shè)備進(jìn)入中國在中國每年有數(shù)量眾多的技術(shù)*,價格昂貴的設(shè)備因為沒有合理的配備而閑置,,對于每一個面對競爭的企業(yè)來說,,這種浪費是致命的,我們認(rèn)為我們必須了解客戶的需求,,將行業(yè)內(nèi)眾多成熟的方案幫助中小型技術(shù)企業(yè)客戶實現(xiàn)合理的配置同時提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性,,并降低產(chǎn)品開發(fā)成本和生產(chǎn)成本。

新瑪通過與Agilent,、Fluke,、Tektronix、Pacific,、HIOKI,、Yokogawa、Rohde-schwarz等廠商的合作,,為客戶提供產(chǎn)品應(yīng)用解決方案,、計量校準(zhǔn)、維修維護(hù)和科技資產(chǎn)外包管理等綜合服務(wù),。
      新瑪通過與業(yè)務(wù)伙伴的緊密合作,,憑借便捷的進(jìn)貨渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),,為客戶提供專業(yè)的產(chǎn)品選型、技術(shù)支持,、現(xiàn)場測試等快捷的本地化服務(wù),,成為電子測試領(lǐng)域的綜合服務(wù)商。


示波器,電子負(fù)載,熱像儀,,邏輯分析儀,頻譜分析儀,,數(shù)據(jù)采集器,,安規(guī)綜合測試儀,交直流電源,,電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,,

應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子,交通,汽車,電氣

安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀

 橢偏振動光譜

利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶,可以分析薄膜的組成,。此外,,載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

傅立葉紅外光譜儀FTIR*適用

集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號FTIR iS50紅外光譜儀,。它也適用于一般的振動光譜,。

 

光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度,折射率,,消光系數(shù)以及體材料,,單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的,,現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量,。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀

SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應(yīng)用(FTIR)設(shè)計的,。緊湊型測量臺包括橢圓儀光學(xué)部件,,計算機(jī)控制角度計,水平樣品臺,,自動準(zhǔn)直透鏡,,商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400 cm-1 ~6,000 cm-1 (1.7 µm – 25 µm)光譜范圍內(nèi)提供了*的精度和分辨率,。

光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動光譜分析,。應(yīng)用范圍從介質(zhì)膜、TCO,、半導(dǎo)體膜到有機(jī)膜層,。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作,另外還提供了FTIR軟件,。

Hydrogen concentration in a-Si films of thin film solar cellsOptical constants of PV glassDiffusion profile for epi-siliconPurged IR-beamlineP-diffusion profiles in c-Si silicon solar cells

 



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