安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀
- 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/1/27 21:59:59
- 訪問次數(shù) 1484
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示波器,電子負(fù)載,熱像儀,,邏輯分析儀,頻譜分析儀,,數(shù)據(jù)采集器,,安規(guī)綜合測試儀,交直流電源,,電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,,
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,汽車,電氣 |
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安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀
橢偏振動光譜
利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶,可以分析薄膜的組成,。此外,,載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
傅立葉紅外光譜儀FTIR*適用
集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號FTIR iS50紅外光譜儀,。它也適用于一般的振動光譜,。
光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度,折射率,,消光系數(shù)以及體材料,,單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的,,現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量,。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。
安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀
SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應(yīng)用(FTIR)設(shè)計的,。緊湊型測量臺包括橢圓儀光學(xué)部件,,計算機(jī)控制角度計,水平樣品臺,,自動準(zhǔn)直透鏡,,商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400 cm-1 ~6,000 cm-1 (1.7 µm – 25 µm)光譜范圍內(nèi)提供了*的精度和分辨率,。
光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動光譜分析,。應(yīng)用范圍從介質(zhì)膜、TCO,、半導(dǎo)體膜到有機(jī)膜層,。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作,另外還提供了FTIR軟件,。