TF ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性高速型模塊化鐵電壓電分析儀,，具備鐵電、壓電,、熱釋電材料基本特性測(cè)試功能,，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜,、厚膜,、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究,。

模塊化設(shè)計(jì)的TF Analyzer 2000 E具有優(yōu)異的擴(kuò)展性,。

FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試；

MR模塊-磁阻和鐵性材料測(cè)試,；

RX模塊-弛豫電流測(cè)試,；

DR模塊-自放電測(cè)試。

國產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器基本單元：包括內(nèi)置完整的計(jì)算機(jī)主機(jī)和測(cè)試版路,、運(yùn)算放大器,、數(shù)據(jù)處理單元等，Windows 7 操作系統(tǒng),、鐵電分析儀測(cè)試軟件等,。

FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率（標(biāo)準(zhǔn)FE模塊0.001Hz~5kHz）；
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試,；
PUND 脈沖測(cè)試,；
Fatigue 疲勞測(cè)試；
Retention 保持力,；
Imprint 印跡,；
Leakage current漏電流測(cè)試；
Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能,。

FE模塊可選測(cè)試功能：
C-V curve電容-電壓曲線；
Piezo Measurement壓電測(cè)試,；
Pyroelectric Measurement熱釋電測(cè)試,；
In-situ Compensation 原位補(bǔ)償；
DLCC 動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能,。

技術(shù)說明：
電壓范圍： +/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV）,；
電滯頻率：5 kHz（標(biāo)準(zhǔn)FE模塊）；
脈沖寬度：2 μs,；
上升時(shí)間：1 μs,；
電流放大范圍：1pA～1A；
大負(fù)荷電容：1μF；
輸出電流峰值：+/-1 A,。

可擴(kuò)展部件：
高壓放大器,、激光干涉儀、AFM,、溫度控制器,、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒,、塊體變溫爐,、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體,、PPMS等,。


MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試,，樣品上的電壓降通過精度高的四點(diǎn)測(cè)試,。

RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng),。
該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開,，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。

DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性,。
由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況,，因此通過這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。

針對(duì)工業(yè)方面的應(yīng)用,，TF Analyzer 2000E提供了256個(gè)自動(dòng)測(cè)試的通道,，大大擴(kuò)展了該儀器的測(cè)試功能。

以上所有的模塊可根據(jù)您的測(cè)試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合,。

國產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器