【主要功能】采用磁性和電渦流兩種測量方法,，可檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁,、鉻、銅,、鋅,、錫、橡膠,、油漆等),以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁,、銅、鋅,、錫上的橡膠,、塑料、油漆,、氧化膜等),。● 中文菜單,；● 兩種工作方式,；● 數(shù)據(jù)刪除功能；● 對界限外的測量值能自動(dòng)報(bào)警,；● 電源欠壓指示,；● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式● 兩種測量方式；● 可儲(chǔ)存500個(gè)測量值,；● 可設(shè)置界限,；【技術(shù)參數(shù)】項(xiàng)目名稱Leeb232測頭類型F1和N1測量原理磁感應(yīng)和電渦流測量范圍0 ~ 1250um分辨率0.1um示值誤差一點(diǎn)校準(zhǔn)±（3%H+1）um二點(diǎn)校準(zhǔn)±[（1~3）%H+1]um測試條件小曲率半徑凸1.5mm 凹9mm小面積直徑φ7mm基本臨界厚度0.5mm工作環(huán)境溫度0 ~ 40℃濕度20% ~ 90%電源AA堿性電池2節(jié)電壓3V工作時(shí)間100小時(shí)外形尺寸130*70*25 mm重量350g外殼材質(zhì)金屬外殼標(biāo)準(zhǔn)配置主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片,、基體,、F1和N1探頭、堿性電池可選配件標(biāo)準(zhǔn)試片,、探頭PC通訊有儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)探頭F400F1F1/90F10N400N1CN02測量原理磁性渦流 測量范圍（μm）0～4000～12500～10mm0～4000～1250010～200測量精度μm一點(diǎn)校準(zhǔn)±[(1～3)%H+0.7]±（3%H+1）±（3%H+10）±（3%H+1）±（3%H+1.5）±(3%H+1)二點(diǎn)校準(zhǔn)±（1～3％H+0.7）±[(1~3)%H+1]±[(1～3)%H+10]±[(1～3)%H+1]±[(1～3)%H+1.5]---低限分辨率0.10.110.10.11小曲率半徑(mm)(凸)11.5平直101.53僅為平面小面積直徑(mm)￠3￠7￠40￠4￠5￠7基本臨界厚度(mm)0.20.520.30.3無限制測頭選用參考表覆蓋層基體有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料,、涂漆,、琺瑯、搪瓷,、塑料和陽極化處理等）非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻,、鋅、鋁,、銅,、錫、銀等）覆蓋層厚度不超過100μm覆蓋層厚度超過100μm覆蓋層厚度不超過100μm覆蓋層厚度超過100μm如鐵,、鋼等磁性金屬被測面積直徑大于30mmF400型測頭0～400μm F1型測頭0～1250μmF1型測頭0～1250μm F10型測頭0～10μmF400型測頭0～400μm F1型測頭0～1250μmF1型測頭0～1250μm F10型測頭0～10μm被測面積直徑小于30mmF400型測頭0～400μmF400型測頭0～400μm F1型測頭0～1250μmF400型測頭0～400μmF400型測頭0～400μm F1型測頭0～1250μm如銅,、鋁、黃銅,、鋅,、錫等有色金屬被測面積直徑大于10mmN1型測頭0～1250μmN400測頭0～400μm僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm被測面積直徑大于10mmN400測頭0～400μmN400測頭0～40μm塑料、印刷線路非金屬基體被測面積直徑大于7mm----CN02型測頭10～200μm