zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)，晶圓在線測厚系統(tǒng),，線掃描膜厚儀,，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀,，分光干涉式晶圓膜厚儀,，相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備，非接觸光學(xué)膜厚儀,，小角激光散射儀,，多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)，量子效率測量系統(tǒng)
| 測量范圍 | 0.6nm~10μm微米 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 分散方式 | 濕法分散 | 價(jià)格區(qū)間 | 20萬-30萬 |
| 儀器種類 | 動(dòng)態(tài)光散射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,電子,制藥 |
多檢體納米粒徑測量系統(tǒng) nanoSAQLA
多檢體納米粒徑測量系統(tǒng)nanoSAQLA利用動(dòng)態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量（粒徑0.6nm～10μm）儀器,。
追求更高品質(zhì)管理的需求,，搭載了各種功能。
可對(duì)應(yīng)檢體范圍廣,，低濃度～高濃度類,，新光學(xué)系，輕便•小型,，實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配,。實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)1分鐘高速測量。
新產(chǎn)品,，非浸泡型,，不受夾雜物的影響，無自動(dòng)取樣器,，“5檢體連續(xù)測量”的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備,。
特點(diǎn)
- 只需一臺(tái),，輕松實(shí)現(xiàn)5檢體連續(xù)測量
- 低濃度到高濃度都可對(duì)應(yīng)
- 高速測量，標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間1分鐘
- 搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
- 內(nèi)置非浸泡型的cell block,，無分注夾雜物
- 搭載溫度梯度功能
測量范圍（理論值）
- 粒徑 0.6nm～10μm
- 濃度范圍 0.00001～40％
- 溫度范圍 0～90℃*
式樣
| 型號(hào) | 多檢體納米粒徑測量系統(tǒng) |
|---|---|
| 測量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射法 |
| 光源 | 高出力半導(dǎo)體激光*1 |
| 檢出器 | 高感光度APD |
| 連續(xù)測量 | 5檢體 |
| 測量范圍 | 0.6nm ～ 10μm |
| 對(duì)應(yīng)濃度 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 溫度 | 0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3 |
| 規(guī)格 | 遵照 ISO 22412：2017 |
| 遵照J(rèn)IS Z 8828：2013 | |
| 遵照J(rèn)IS Z 8826：2005 | |
| 尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
| 重量 | 約18 kg |
| 軟件 | 平均粒徑解析 （累積法解析） |
| 粒度分布解析 | |
| （Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法） 粒度分布疊寫 逆相關(guān)函數(shù)?殘差plot 粒徑monitor 粒徑顯示范圍 （0.1 ～ 106 nm） 分子量計(jì)算功能 |
*1 根據(jù)激光安全基準(zhǔn) （JIS C6802）級(jí)別區(qū)分,，本儀器的安全級(jí)別為1級(jí)。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％,、牛黃膽酸：～40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測量的情況,。
一次性cell或連續(xù)測量時(shí)， 15 ～ 40℃ （不對(duì)應(yīng)溫度梯度）
測量范例
關(guān)聯(lián)產(chǎn)品
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