英國abi 電路板故障檢測儀概述：

可提供全品種的專業(yè)級電路板測試、電路板檢測的多功能電路板故障診斷系統(tǒng),。由硬件測試平臺,、可編程軟件測試平臺、測試夾具（含夾具,、治具）組成,。硬件測試平臺由測試單元組成，可根據(jù)測試要求擴(kuò)充測試單元進(jìn)而擴(kuò)充系統(tǒng)的測試功能和測試通道,。軟件測試平臺可以通過代碼和非代碼編程方式完成測試程序編程,，實(shí)現(xiàn)測試過程的所有數(shù)據(jù)和步驟的存檔保留，形成流程化,、標(biāo)準(zhǔn)化,、信息化的測試程序，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)軟件自動化測試,，提高排查故障的準(zhǔn)確率和系統(tǒng)的測試效率,。

一、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)構(gòu)成：

系統(tǒng)構(gòu)成概述：

1.系統(tǒng)硬件測試平臺：（各個測試單元可根據(jù)測試需要擴(kuò)充測試模塊以達(dá)到需要的測試通道）

1)多電源數(shù)字集成電路測試單元（數(shù)字電路測試單元）：可擴(kuò)充：2048路測試通道,；

2)模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）,；

3)多功能儀表單元（八合一儀表單元）；

4)三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試單元（動態(tài)阻抗測試單元）可擴(kuò)充：2048路測試通道,；

5)可編程程控電源單元：可根據(jù)測試需要擴(kuò)充電源通道

6)硬件測試框架,；

2.可編輯軟件測試平臺：

1)非代碼編程：測試流程管理，形成流程化,、標(biāo)準(zhǔn)化,、信息化的測試程序,；

2)代碼編程：自動化、半自動化電路板整板測試,，實(shí)現(xiàn)電路板批量化測試,、電路板生產(chǎn)檢驗(yàn)測試、電路板一致性分析測試,。

3.測試夾具：

1)測試夾具：日常手工測試所需要的夾具,；

2)治具：電路板整板測試的測試工裝（定制：包括：針床、接口板等）

（一）英國abi 電路板故障檢測儀硬件測試平臺功能：

1.多電源數(shù)字集成電路測試單元（數(shù)字電路測試單元）：可擴(kuò)充：2048路測試通道,；單元由ABI-6500模塊*2組成

1)128通道（可擴(kuò)充至2048通道）

2)數(shù)字器件功能測試,，管腳電壓，管腳連接狀態(tài),，溫度拐點(diǎn)系數(shù),，數(shù)字V-I測試

3)高級邏輯時序發(fā)生器

4)電路板故障高級查找功能

5)短路追蹤（通斷測量）

6)未知型號器件的判別

2.模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）;單元由ABI-2500模塊*1組成

1)模擬器件V-I曲線測試，矩陣測試,；

2)24路測試通道，2通道探筆測試,，2通道同步脈沖輸出,，3路分立器件測試通道；

3)各種器件的V-I, V-T, I-T曲線測試,；

4)模擬集成電路及分立器件測試功能,。

3.三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試單元（動態(tài)阻抗測試單元）可擴(kuò)充：2048路測試通道;單元由ABI-3400模塊*1組成

1)規(guī)格：64路測試通道+4路探棒測試+4組同步脈沖，可切換為32+32路測試模式,；

2)提供: V-I-F,，V-T-F，V-I, V-T曲線測試,；

3)矩陣測試:對所有管腳間的V-I（阻抗）曲線測試

4)在二維的圖形上可顯示該曲線各點(diǎn)的電氣參數(shù)值(V/I)：電壓、電流具體數(shù)值,；

5)設(shè)備可以64通道為步進(jìn)大擴(kuò)充到2048路測試通道,。

4.多功能儀表單元（八合一儀表單元）;單元由ABI-6350模塊*1組成

規(guī)格：集成8種常用測試儀器于一體,；

1)3通道數(shù)字示波器,；

2)2通道任意波形發(fā)生器；

3)2通道數(shù)字電壓表,；

4)1通道數(shù)字電流表,；

5)1通道數(shù)字電阻表,；

6)1通道頻率計,；

7)8通道通用I/O接口,；

8)4路固定輸出電源,。

5.可編程程控電源單元;單元由ABI-1200模塊*1組成

1)規(guī)格：三路可調(diào)輸出,，可串并聯(lián),；

2)通道*隔離；

3)每路提供0～±40VDC,、8Amax,、40Wmax

4)具備過壓,、過流保護(hù)

5)遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測補(bǔ)償功能

6.硬件測試框架：英國原產(chǎn)19英寸機(jī)架式含計算機(jī)（可以大安裝六組模塊）

（二）可編程軟件測試平臺功能

中英文軟件,，可通過編程軟件對所有模塊進(jìn)行操作控制

1.具有測試流程記憶功能（軟件具有強(qiáng)大的測試流程編輯和記錄功能）

2.測試流程的制定貫穿整個測試過程,，使電路測試過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程,、生產(chǎn)流程,、 測試流程）?？梢园凑諟y試要求,，保存流程測試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程,。保證了測試工藝的一致性,，排除人為因素的干擾。使測試簡單,、容易,、標(biāo)準(zhǔn)化、工藝化,。

3.全面記錄各種測試信息,。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測量到的管腳電壓、連接關(guān)系,、功能測試結(jié)果等  信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲記錄到測試流程中,，方便隨時與其他電路板進(jìn)行對比，大大簡化了測試中需要重復(fù)對比的工作,。

4.軟件在測試流程中允許用戶加入對測試步驟的文字說明,、照片、Office Word,、Office Excel,、PDF文檔、網(wǎng)頁鏈接,、視頻等,，提升了測試效率。

5.圖形化測試庫編輯器,，圖形化定義輸入激勵信號及測試記錄輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號,，快速建立元器件與電路板測試庫，元器件與整板測試庫擴(kuò)充簡單,、快捷. 非專業(yè)人員可以快速擴(kuò)充測試庫,。

6.*測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報告。系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測試報告,。測試報告可以包含用戶關(guān)注的測試數(shù)據(jù)與測試結(jié)果,。生成用戶專有的測試報告，方便測試數(shù)據(jù)的保存,。

7.*中文,、英文測試操作軟件,，中文軟件漢化到各級菜單（完整漢化版），提供免費(fèi)終生軟件的升級服務(wù),；

8.智能化編程,，通過TFL編輯器，可對測試的每個步驟進(jìn)行編程,，TFL編輯器包括：WHILE,、IF、STARTLOGDB,、WRITELOGDB,、SYSTEM等21個編程命令。

（三）測試夾具功能

1.測試夾具附件,，包括：DIL等各種器件測試夾具1套（日常手工測試所需要的夾具）,；

2.治具需要定制服務(wù)：電路板整板測試的測試工裝（包括：針床、接口板等）,；

3.可選配件：SOIC測試夾具,、離線測試盒、分立器件測試探筆套裝等,。

二,、BM-8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)功能特點(diǎn)

1.*硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計，可根據(jù)要求擴(kuò)充測試模塊和測試通道,。

2.*軟件系統(tǒng)測試過程流程化設(shè)計,，可以通過非編程方式實(shí)現(xiàn)測試過程流程化：保存流程測試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程,。以后的測試就

3.按照流程步驟進(jìn)行測試,，得出相應(yīng)的結(jié)果，并形成數(shù)據(jù)對比報告,。測試流程的制定貫穿整個測試過程，并不斷完善測試流程,。實(shí)時將測試經(jīng)驗(yàn),、測試信息擴(kuò)充到測試流程工藝中。完成了流程化設(shè)計的電路板可以實(shí)現(xiàn)人工快速,、半自動化故障排查及板級系統(tǒng)測試,，提高排故和測試效率。

4.*測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報告,。系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測試報告,。測試報告包含用戶關(guān)注的測試數(shù)據(jù)與測試結(jié)果,。生成用戶專有的測試報告,，方便測試數(shù)據(jù)的保存,。

5.*多電源數(shù)字電路測試模塊具備64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試（可擴(kuò)充到2048通道）,，每個通道可以根據(jù)需要分別獨(dú)立定義為：輸入/電壓測量,、輸出/信號驅(qū)動或V/I曲線測量；可進(jìn)行自定義測試,，器件與整板的自定義仿真測試,。

6.*具備閾值電平臨界點(diǎn)掃描測試功能，確定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值,，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。

7.系統(tǒng)可對各種器件進(jìn)行端口測試： V-I,、V-T、V-I-F測試.二維V-I測試低達(dá)1Hz頻率,，三維測試頻率高達(dá)到10kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件,?？稍O(shè)定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試,。

8.變頻三維立體V-I-F測量方式,，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障,。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板,，三維立體圖形測量測量方式，適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測試,。

9.*系統(tǒng)各個模塊在同一個專業(yè)平臺操控下同時運(yùn)行,，完成流程化、步驟化,、標(biāo)準(zhǔn)化測試并生成自定義測試報告,。

10.*集成8種測試儀器于一體：3通道數(shù)字示波器,、2通道任意波形發(fā)生器,、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表,、1通道數(shù)字電阻表,、1通道頻率計、8通道通用I/O接口,、4路輔助電源,。8種常規(guī)測試儀器可以并發(fā)操作,，所有步驟過程可以記錄存儲并可對比，所有測試數(shù)據(jù)可以量化,，并可以形成測試報告,，可對電路板進(jìn)行仿真測試、調(diào)試測試,、一致性測試等整板測試,。

11.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出，電源輸出由系統(tǒng)軟件來控制,，三個通道可以支持串并聯(lián)以增加電壓和電流的輸出范圍,。電源供應(yīng)器模塊可根據(jù)流程設(shè)計，自動開啟和關(guān)閉測試所需的電源,。電源配合其他模塊使用,，可實(shí)現(xiàn)整板測試與多電源測試的流程自動化。

12.多達(dá)上萬種的數(shù)字器件測試庫,，測試器件庫涵蓋常用的器件,。也可以通過圖形化器件編輯器快速擴(kuò)充與自定義器件測試庫?？梢酝ㄟ^圖形化器件編輯器定義輸入激勵信號及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號,，快速批量建立元器件和整板測試庫。

13.系統(tǒng)含有模擬器件測試庫,，可對放大器,、比較器、二極管,、三極管,、晶閘管、場效應(yīng)晶體管,、光耦器件,、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測試。 可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測試等,。

14.系統(tǒng)可對各種器件進(jìn)行端口測試：V-I,、V-T、I-T測試,。測試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件,。可設(shè)定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.

三,、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)單元模塊特點(diǎn)

1.多電源數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊(ABI-6500)

該模塊具有64個測量通道,可提供多種的測量功能,。這些通道可提供全面性故障診斷能力，包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試),集成電路管腳的連接狀態(tài)和電壓值的測量,以及在非加電情況下使用的V-I曲線測試功能,，是數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊,。系統(tǒng)提供的信息更全面,、更準(zhǔn)確、測試條件更豐富,。仿真測試輸入電壓可以根據(jù)需要-10V～+10V之間自己定義,，檢測輸出的電平閾值也可以自己定義,。ABI-6500模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測試更加方便快捷,。

2.模擬電路測試功能模塊(ABI-2500)

在模擬集成電路測試模塊中允許對模擬集成電路和分立器件進(jìn)行功能測試。所有常見的模擬集成電路皆可以測試,，系統(tǒng)會依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)進(jìn)行功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖,。在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測試功能，電路板或集成電路可在非加電的情況下,，得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果.,。ABI-2500模塊包含標(biāo)準(zhǔn)模擬器件參數(shù)測試庫。

3.三維立體矩陣式V-I-F動態(tài)阻抗混合電路測試模塊（ABI-3400）

規(guī)格：64通道,，三維立體V-I-F測試,，適合檢測與頻率相關(guān)的器件特性，強(qiáng)大的矩陣式測試,，測試通道可擴(kuò)展(以64通道步進(jìn)擴(kuò)展,，可達(dá)2048通道)，*的同步脈沖測試模式,，可制定標(biāo)準(zhǔn)的測試流程及步驟,。

4.八合一多功能儀表模塊(ABI-6350)

在八合一多功能儀表模塊中，提供了多種高規(guī)格的測試及測量用的儀表功能在同一模塊之中,。此種設(shè)計方式適合用于教育及一般用途的電子測量使用,。其模塊提供了八種常用儀表功能：3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器,、2通道數(shù)字電壓表,、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表,、4通道頻率計,、8通道通用I/O接口、4路輔助電源.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺功能,來設(shè)計定制化的儀器操作接口,。

5.系統(tǒng)可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(ABI-1200)

此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測試時所必要的電源,。其具有三組可調(diào)式隔離電源輸出,三個通道支持串并聯(lián)，遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測補(bǔ)償,，并同時具有過電壓及過流保護(hù)功能,。

四、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)單元模塊主要技術(shù)指標(biāo)

1.多電源數(shù)字集成電路測試模塊: (6500模塊*1個)

1.1測試通道數(shù) : 64測試通道（大可擴(kuò)至2048通道）

1.2具有數(shù)字V-I曲線測試功能,，64路測試通道（大可擴(kuò)至2048通道）

1.3總線隔離信號通道：8通道（4邏輯高+4邏輯低）

1.4可設(shè)定輸出的邏輯信號電平范圍 : -10V ～ +10VDC

1.5具自動掃描目前工作的數(shù)字邏輯電平閾值功能

1.6邏輯時序發(fā)生器：64通道（大可擴(kuò)至2048通道）,，模式數(shù)（大）999個/通道

1.7 64個通道可以獨(dú)自定義為：輸入（測量）和輸出（驅(qū)動）,，輸出信號范圍：-10V～+10V，輸入信號范圍：+20V ～ -20VDC

2.模擬電路測試模塊：(2500模塊)

2.1 V-I測試性能

測量通道：2路探棒通道,，2路同步脈沖信號通道,，24路測試夾具通道，3路分立器件測試通道,；

V-I曲線測試掃描電壓范圍：2～50Vp-p,；

V-I曲線測試掃描頻率范圍：37.5Hz～12kHz；

V-I曲線測試阻抗范圍：100Ω～1MΩ,；

V-I曲線測試信號波形：正弦波,、三角波、斜波,；

顯示曲線模式：V-I,、V-T、I-T,；

測試方式：學(xué)習(xí)對比,、探棒實(shí)時對比、矩陣測試,；

同步脈沖信號幅度：-10V～+10V,；

同步脈沖輸出模式：正脈沖、負(fù)脈沖,、雙向脈沖,、DC,；

2.2模擬集成電路及分離組件測試功能

測量通道數(shù)：24個獨(dú)立測試通道,；

驅(qū)動輸出電壓：-12V～+12V；

驅(qū)動輸出電流：200mA,；

可量測輸入電壓：±24V,；

IC測試封裝型態(tài)：OP放大器、比較器,、DACs、ADCs,；

IC測試方式：在線測試, 若OPA工作在線性區(qū), 則可自動計算出放大率(Av),；

晶體管測試能力：晶體管、FET,、TRIACS,、THYRISTOR；

3.系統(tǒng)可調(diào)式電源供給模塊功能: (1200模塊)

電源供應(yīng)輸出控制可由軟件來手動控制開關(guān)；

3通道*獨(dú)立,；

每通道：0～40VDC max, 0～8A max, 40W max；

支持串并聯(lián),，以便增加電壓和電流供應(yīng)；

4.八合一多功能儀表模塊性能：(6350模塊)

4.1數(shù)字儲存示波器

測試通道：3路測試通道,；

帶寬：100MHz,；

采樣速率：500MS/s (25GS/s ERS 模式)；

輸入阻抗：1MΩ,；

4.2函數(shù)信號產(chǎn)生器：

測試通道：2通道,；

輸出波形：DC,、正弦波,、方波、三角波,、正脈沖、負(fù)脈沖,；

輸出頻率范圍：0.5Hz～25MHz；

輸出阻抗：50?,；

4.3通用 I/O：

通道數(shù)：8路通用I/O通道；

信道模式：電壓輸出,、電壓輸入；

提供CMOS,、LVCMOS、ECL,、TTL,、LVTTL邏輯電平的預(yù)設(shè)值；

4.4電壓表

測量通道：2通道,；

直流電壓測量范圍：0～±500V；

交流電壓測量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～500V,；

顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count,；

4.5電流表：

測量通道：1通道,；

直流電流測量范圍：0～±10A,；

交流電流測量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～10A,；

顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count,；

4.6電阻表：

測量通道：1通道,；

測量范圍：0～10MΩ；

連續(xù)性：0Ω～ 1kΩ,，分辨率：100mΩ,；

二極管：測量范圍：0V～2V,；分辨率：100μV,；測試電流：1mA；

顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count,；

4.7頻率計數(shù)器

測量通道：1路通道+3路DSO共用通道,；

頻率測量范圍：通道：1MHz～800MHz,；DSO通道：2Hz～100MHz；

輸入阻抗：通道：50Ω,；DSO通道：1MΩ,；

電壓輸入范圍：通道：±3.3V,；DSO通道：±40mV～±8V,。；

4.8輔助電源:

電壓輸出：+5V,+3.3V,+12V,-12V,；

電流限制：+5V/1A,；+3.3V/1A,+12V/100mA,-12V/100mA；

5.三維立體矩陣式V-I-F動態(tài)阻抗混合電路測試模塊  (3400模塊*1個)

5.1測試通道：4路探棒通道,，4路同步脈沖通道,，64路夾具測試通道；

5.2 V-I曲線掃描電壓范圍：2～50Vp-p（2,、5,、10,、20,、50Vp-p）；

5.3 V-I曲線掃描頻率設(shè)定范圍：1Hz～10kHz（可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定）,；

5.4 V-I曲線測試阻抗范圍：100Ω～1MΩ（100,、1k、10k,、100k,、1MΩ）；

5.5 三維 V-I-F曲線掃描頻率范圍：10Hz～10kHz（可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定）,；

5.6 顯示曲線模式：V-I,、V-T,、V-I-F,、V-T-F,；

5.7 測試方式：存儲對比、探棒實(shí)時對比,、矩陣測試,；

5.8 同步脈沖輸出設(shè)定：單脈沖、雙脈沖、三脈沖,、四脈沖,；

5.9 同步脈沖信號幅度：-10V～+10V，小調(diào)整分辨率0.01V,；

五,、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)主要優(yōu)勢

1.模塊化設(shè)計：可以自由擴(kuò)充，任意拆分,，可以滿足不同客戶的需求,。模塊化設(shè)計，可以將整機(jī)拆分,、組合成小儀器使用.

2.軟件具測試流程記憶功能

ABI的BM-8600采用嶄新的測試?yán)砟?，測試流程的制定貫穿整個測試過程，使電路測試的過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程,、生產(chǎn)流程,、檢測流程）。

可以按照測試要求,，保存流程測試的所有步驟和數(shù)據(jù),，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程。

以后的測試就按照標(biāo)準(zhǔn)的流程按步驟進(jìn)行測試,，得出相應(yīng)的結(jié)果,，并形成數(shù)據(jù)對比報告。

保證了測試工藝的一致性,，排除人為因素的干擾,。半熟練的工程人員只需要按部就班的依指示及圖示來操作設(shè)備，便可以完成所有的檢測工作,。使測試簡單、容易,、標(biāo)準(zhǔn)化,。

3.對電路板和集成電路可同時進(jìn)行多種并發(fā)測試操作。

包括功能測試,，V-I曲線測試,，溫度拐點(diǎn)系數(shù)測試，連接狀態(tài)測試,，管腳電壓測試,。并且提供全面的測試結(jié)果信息,，測試效率大大提高。

1）可同一時間完成多種測試,，該測試提供信息全面,，節(jié)省測試時間。

2）測試項(xiàng)目：集成電路的功能測試,、V-I曲線測量,、曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)、各個管腳電壓值測量,、管腳連接狀態(tài)測量顯示,。

4.圖形化編輯元件測試庫和整板測試庫

采用圖形化編程，方便以后擴(kuò)充元件庫和電路板庫,，方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫,。

圖形化元件測試庫編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯，方便快捷建立起測試庫中沒有的元件庫,。

整板測試非常簡單,，通過圖形化的測試庫編輯器，根據(jù)電路板原理,，定義輸入激勵信號及輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號,，快速建立板測試庫，快速批量檢測電路板的功能,。

5.可測試拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)

V-I曲線測試,可以觀測曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障),。

6.具短路電阻測量功能

短路電阻測量功能：

三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,并自動探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,檢查短路點(diǎn),，可判定線路阻抗及通斷情況,。

7.可邏輯電平閾值自動掃描

邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值臨界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯誤.

1)邏輯電平閾值自定義?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件,。

2)邏輯電平閾值可以自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值臨界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯誤,。

邏輯電平閾值自動掃描：邏輯高低電平是一個范圍，該種方法是確定集成電路在板系統(tǒng)中能通過的電平具體數(shù)值,，該數(shù)值能反映出集成電路驅(qū)動能力的下降問題,，方便查找驅(qū)動能力下降的器件。

8.*的V-T模式可測量器件的開關(guān)時間特性（配合同步脈沖）

•可設(shè)定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.

•測試時將設(shè)定好的方波同步到測試信號中,，可以觀測到三端器件開關(guān)時間特性的差異,，圖中是高頻狀態(tài)，器件的開關(guān)時間參數(shù)出現(xiàn)問題,，圖中的差異體現(xiàn)了開關(guān)時間的問題,。

9.V-I曲線矩陣測試

分別以每個管腳為公共端進(jìn)行V-I測試,，可針對管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測試發(fā)現(xiàn)管腳間的阻抗差異，使測量的信息更全面準(zhǔn)確,。

10.具有分立器件功能測試

1）模擬集成電路測試功能：可對模擬放大器,、比較器、二極管,、三極管,、晶閘管、場效應(yīng)管,、場效應(yīng)晶體管場效應(yīng)晶體管場效應(yīng)晶體管光耦器件,、AD/DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測試.

2）可以對模擬器件的參數(shù)指標(biāo)值進(jìn)行在線測量：放大倍率 (AV) CTR值 (電流轉(zhuǎn)換比) 、Vled (內(nèi)部光二極管的導(dǎo)通電壓值,、Hfe值 (晶體的電流放大倍率)等參數(shù)值,。

11.*的波套設(shè)計

八合一多功能儀表6350-示波器*功能-波套

•信號波形通過對比

12.將波形保存成測試步驟（生成測試數(shù)據(jù)庫）

13.變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線,，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障,。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板。

14.動態(tài)阻抗分析功能,，可以對圖形進(jìn)行電壓,、電流參數(shù)的測量