小型臺(tái)式輪廓儀Form Talysurf Intra(FTS)
- 公司名稱 篤摯儀器(上海)有限公司
- 品牌 TaylorHobson/英國泰勒霍普森
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 英國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/9/2 17:55:39
- 訪問次數(shù) 2768
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
---|---|---|---|
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
小型臺(tái)式輪廓儀Form Talysurf Intra(FTS)
Talysurf表格內(nèi)系統(tǒng)的功能和優(yōu)點(diǎn):
•1mm垂直范圍/ 16nm分辨率提供了用于精密金屬成型和其他應(yīng)用的表格(輪廓)以及表面光潔度測(cè)量功能,。 •50mm水平移動(dòng),,是大多數(shù)車間應(yīng)用的理想選擇。該裝置兼具準(zhǔn)確性和便攜性,。 •0.40um / 50mm直線度誤差高精度的移動(dòng)原點(diǎn),,即使在大型零件上,也可以進(jìn)行波紋度,,形狀和輪廓的無滑移測(cè)量,。 •0.5um的水平數(shù)據(jù)間距比以往任何時(shí)候都可以更有效地測(cè)量小型組件和特征??s短的啟動(dòng)和停機(jī)時(shí)間進(jìn)一步提高了可用性,。 •手動(dòng)柱對(duì)于大型或高組件,可用的手動(dòng)柱提供穩(wěn)定的工作站以提高通量,。 Form Talysurf Intra –用于表面光潔度和輪廓測(cè)量的感應(yīng)系統(tǒng)精密解決方案產(chǎn)品初的Form Talysurf于1984年推出,,是有史以來第*臺(tái)同時(shí)測(cè)量紋理,形狀和輪廓的儀器?,F(xiàn)在,,我們新開發(fā)的Form Talysurf內(nèi)部測(cè)量系統(tǒng)鞏固了Taylor Hobson的,并創(chuàng)建了用于評(píng)估表面光潔度和形狀的新標(biāo)準(zhǔn),。 Intra系統(tǒng)具有一毫米的量程范圍,,多種可互換的測(cè)針和已獲**的校準(zhǔn)程序,是幾乎所有高精度應(yīng)用的理想選擇,。 Ultra Software-全面的表面光潔度分析Form Talysurf Intra Sytem包括對(duì)表面光潔度測(cè)量非常重要的所有內(nèi)容,。包括基本的粗糙度和波紋度參數(shù),以及形狀誤差分析,,功能排除,,縮放工具和針對(duì)車間應(yīng)用的*可編程性。 •表格分析*測(cè)量和評(píng)估半徑,角度(坡度)和尺寸•簡單的用戶界面*與系統(tǒng)可編程性相結(jié)合,,可提供真正的車間解決方案;提供定制設(shè)計(jì),。 •Dual Profile Analysis *(雙重輪廓分析*)允許比較磨損,,公差等測(cè)量結(jié)果。•Ultra Contour Analysis用于尺寸應(yīng)用的獨(dú)立軟件實(shí)用程序,,可以直接比較設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)和測(cè)量結(jié)果,,并獲得誤差結(jié)果。特殊硬件也可用于廣泛的應(yīng)用,。 •用于地形應(yīng)用程序的Talymap 3D Analysis獨(dú)立軟件實(shí)用程序,;還需要特殊的硬件。 *超軟件許可選項(xiàng)Taylor Hobson提供了一筆出色的投資•通過靈活的模塊化系統(tǒng)配置節(jié)省資金•通過我們已獲**的校準(zhǔn)例程提高準(zhǔn)確性•通過多任務(wù)測(cè)量系統(tǒng)節(jié)省時(shí)間•通過自動(dòng),,無人值守的操作提高生產(chǎn)率•通過編程避免錯(cuò)誤測(cè)量程序,,
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篤摯儀器(上海)有限公司主營檢測(cè)儀器設(shè)備有:
==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀,;
==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀,、輪廓儀、圓度儀,、圓柱儀,、光學(xué)三維形貌測(cè)量儀;
==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀,、高度測(cè)量儀,、千分尺、卡尺,;
==>>德國EPK(Elektrophysik)手持式涂覆層測(cè)厚儀,;
==>>德國艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀;
==>>美國API XD系列激光干涉儀,;
==>>美國GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀,、超聲波測(cè)厚儀;
==>>日本三豐Mitutoyo量具,、粗糙度儀,、測(cè)高儀、千分尺,、卡尺,;
==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭,、位置編碼器,、光柵、激光尺;
==>>德國Fraunhofer-IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng),;
==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng),、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀,、紅外探測(cè)器,;
==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀,、渦流探傷儀,、XRF金屬分析儀;
==>>TRIMOS測(cè)長儀,、測(cè)高儀,、萬能測(cè)長機(jī);
==>>杭州思看科技三維掃描儀.