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透射電鏡雙傾熱電原位系統(tǒng)

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 廈門超新芯科技有限公司
  • 品牌 CHIPNOVA
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2023/12/27 9:36:52
  • 訪問次數(shù) 7670

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超新芯(CHIPNOVA)是早期原位芯片技術(shù)開發(fā)研究者,擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團(tuán)隊,,10余年來技術(shù)不斷迭代升級,,在電鏡中實(shí)現(xiàn)了液、氣體微環(huán)境引入及光,、電,、力、熱等外場控制與高時空分辨顯微研究,。相關(guān)系統(tǒng)在材料,、能源、環(huán)境,、化學(xué),、生物等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用,促進(jìn)了人類對微觀世界的探索,,推動了相關(guān)領(lǐng)域的科技進(jìn)步,。

除了繼續(xù)深耕原位電子顯微等科研領(lǐng)域,做世界優(yōu)秀的科研產(chǎn)品供應(yīng)商,;超新芯(CHIPNOVA)也正將相關(guān)技術(shù)延伸應(yīng)用于智慧物聯(lián),、大健康等民用領(lǐng)域,,產(chǎn)品涵蓋提供智慧牧場方案的智能項圈、監(jiān)測實(shí)時血糖狀況的CGM,,為國人提供高品質(zhì)的技術(shù)與服務(wù),。

 

原位液相,原位氣相,真空加熱,原位電化學(xué),原位光學(xué),原位力學(xué),原位冷凍

適用電鏡 Thermo?Fisher/FEI,?JEOL,?Hitachi

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我們的優(yōu)勢

優(yōu)異的電學(xué)性能

1.采用模擬校驗(yàn)設(shè)計的芯片電極,電場分布均勻,、電位穩(wěn)定,,芯片表面的保護(hù)性涂層保證電學(xué)測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達(dá)皮安級,。

2.MEMS微加工特殊設(shè)計,,在加熱過程中可同時進(jìn)行電學(xué)試驗(yàn)和表征,不影響溫度穩(wěn)定性,。


優(yōu)異的熱學(xué)性能

1.高精密紅外測溫校正,,微米級高分辨熱場測量及校準(zhǔn),確保溫度的準(zhǔn)確性,。

2.四電極的超高頻控溫方式,,排除導(dǎo)線和接觸電阻的影響,測量溫度和電學(xué)參數(shù)更精確,。

3.采用高穩(wěn)定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料),,既是熱導(dǎo)材料又是熱敏材料,其電阻與溫度有良好的線性關(guān)系,,加熱區(qū)覆蓋整個觀測區(qū)域,,升溫降溫速度快,熱場穩(wěn)定且均勻,,穩(wěn)定狀態(tài)下溫度波動≤±0.01℃,。

4.采用閉合回路高頻動態(tài)控制和反饋環(huán)境溫度的控溫方式,高頻反饋控制消除誤差,,控溫精度±0.01℃,。

5.DUTE多級復(fù)合加熱MEMS芯片設(shè)計,,控制加熱過程熱擴(kuò)散,,極大抑制升溫過程的熱漂移,確保實(shí)驗(yàn)的高效觀察,。

6.加熱絲外部由氮化硅包覆,,不與樣品發(fā)生反應(yīng),確保實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性,。


智能化軟件和自動化設(shè)備

1.人機(jī)分離,,軟件遠(yuǎn)程控制實(shí)驗(yàn)條件,程序自動化控制傾轉(zhuǎn)角度,。

2.自定義程序升溫曲線,??啥x10步以上升溫程序、恒溫時間等,,同時可手動控制目標(biāo)溫度及時間,,在程序升溫過程中發(fā)現(xiàn)需要變溫及恒溫,可即時調(diào)整實(shí)驗(yàn)方案,,提升實(shí)驗(yàn)效率,。

3.內(nèi)置絕對溫標(biāo)校準(zhǔn)程序,每塊芯片的每次控溫都能根據(jù)電阻阻值變化,,重新進(jìn)行曲線擬合和校正,,確保測量溫度精確性,保證高溫實(shí)驗(yàn)的重現(xiàn)性及可靠性,。

4.全流程配備精密自動化設(shè)備,,協(xié)助人工操作,提高實(shí)驗(yàn)效率,。



技術(shù)參數(shù)

類別項目參數(shù)
基本參數(shù)臺體材質(zhì)
電極數(shù)4
視窗膜厚無膜或20nm
漂移率<0.5 nm/min(穩(wěn)定狀態(tài))
傾轉(zhuǎn)角α ≥ ±25°,,β ≥ ±25°(實(shí)際范圍取決于極靴型號)
適用電鏡Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
適用極靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持升溫過程及高溫檢測













應(yīng)用案例

熱電案例1.png

Ag2Te基熱電材料隨電壓變化情況


未標(biāo)題-1.png

0.4v電壓Ag2Te基熱電材料高分辨

Ag2Te 基熱電材料由于能夠通過內(nèi)部載流子的運(yùn)動實(shí)現(xiàn)電能和熱能之間的相互轉(zhuǎn)換;因此,在進(jìn)行施加電壓實(shí)驗(yàn)過程中會出現(xiàn)隨著電壓的增大,,樣品自身溫度升高的現(xiàn)象;研究得知隨著電壓持續(xù)升高,,樣品表面結(jié)構(gòu)變化明顯,紋路由不規(guī)則塊狀演變成條狀或消失,。而且,,通過降低電壓的過程,我們發(fā)現(xiàn)該材料升高或降低電壓時,,表面結(jié)構(gòu)發(fā)生變化的過程是可逆的,,表明該材料具有優(yōu)異的熱電性能和重復(fù)使用性能。




















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