一鍵式影像測(cè)量?jī)x基于光學(xué)成像的尺寸測(cè)量?jī)x器在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,，傳統(tǒng)的光學(xué)尺寸測(cè)量?jī)x器包括工具顯微鏡,、投影儀、影像測(cè)量?jī)x（二次元）等,，都存在檢測(cè)效率低,、人為操作誤差、人員技能要求高,、數(shù)據(jù)難以信息化等各種問(wèn)題,。

一鍵式影像測(cè)量?jī)x特點(diǎn)

穩(wěn)定快速：雙遠(yuǎn)心光路結(jié)合圖像畸變校正、亞像素?cái)?shù)值處理算法,，實(shí)現(xiàn)高精度,、高穩(wěn)定性尺寸測(cè)量；精密電動(dòng)平臺(tái)配合可快速更換及實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)的正面照明系統(tǒng),，滿足用戶(hù)對(duì)復(fù)雜表面尺寸的準(zhǔn)確測(cè)量,。

光學(xué)畸變校正：在高精度圖像尺寸測(cè)量應(yīng)用中，鏡頭畸變校正具重要意義,，即使是細(xì)微的畸變,，也會(huì)造成精度嚴(yán)重滑坡。只有真實(shí)的圖像才能真實(shí)地反映物體的真實(shí)形態(tài),。但是鏡頭畸變是透鏡的固有失真造成的,，實(shí)際應(yīng)用中，還與鏡頭的精度,、質(zhì)量有著種種關(guān)聯(lián),，是不可避免的。通常的鏡頭畸變主要為非線性畸變,，包括了徑向畸變和切向畸變,。常見(jiàn)的桶形畸變和枕型畸變正是由徑向畸變所造成的。而切向畸變是理想點(diǎn)沿著切線方向發(fā)生變化導(dǎo)致的，也可以理解為角度方向上的變化,。因此,，本產(chǎn)品對(duì)基于非線性技術(shù)的光學(xué)系統(tǒng)畸變校正算法進(jìn)行了研究，以提高測(cè)量精度以及測(cè)量效率,。將非線性畸變參數(shù)作為相機(jī)的內(nèi)部參數(shù)之一,，通過(guò)對(duì)初值的獲取，聯(lián)合其他的內(nèi)部參數(shù)一并在非線性深度優(yōu)化求解過(guò)程中獲得,。終利用得到的誤差補(bǔ)償函數(shù)的系數(shù)矩陣和徑向畸變參數(shù),，實(shí)現(xiàn)鏡頭畸變的誤差校正，有效改善了鏡頭畸變?cè)斐傻臋z測(cè)誤差,，滿足工業(yè)測(cè)量過(guò)程中的實(shí)時(shí)性和高精度要求,。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍(mm)：180×150。

調(diào)焦行程（mm）：50,。

測(cè)量精度（μm）：±10,。

重復(fù)精度（μm）：±4。

景深（mm）：300

光學(xué)系統(tǒng)：500萬(wàn)像素CCD,；雙遠(yuǎn)心工業(yè)鏡頭,； 遠(yuǎn)心平行背光源、LED環(huán)形正面光源,。

軟件：快速閃測(cè)Easson軟件,。

接口：GigE ×1（雙視野型號(hào)×2），RS 232 ×1,，及其他可擴(kuò)展接口,。

電源：AC 220V，50Hz,。

工作環(huán)境：溫度15-25℃,；濕度30%-80%；振動(dòng)<0.002g, 15Hz,。

 檢查庫(kù)
圍繞工藝的環(huán)境產(chǎn)生消極影響,，必須通過(guò)幾個(gè)途徑降低到小，以滿足頭工作的要求,。
● AOI檢查庫(kù)──對(duì)部分AOI制造商的標(biāo)定工具進(jìn)行調(diào)整是極為重要的,，所以，這些變化能夠傳遞到照相機(jī)和照明模塊上,。
● 對(duì)于不同產(chǎn)品的AOI檢查庫(kù),，有可能在當(dāng)?shù)剡M(jìn)行調(diào)整──這是AOI軟件*的特性。
● 貼片公差——進(jìn)料器常規(guī)的維護(hù)和校準(zhǔn),。
● 確定檢查質(zhì)量：IPC標(biāo)準(zhǔn)2級(jí)——必須允許使用朝下的電阻器,。組件趐起和共面性的檢測(cè)必須可靠,。
關(guān)于元件長(zhǎng)度公差，不同的組件供應(yīng)商,、電路板和無(wú)鉛焊料的供應(yīng)商都不可能沒(méi)有任何直接的影響,。AOI程序應(yīng)該能夠應(yīng)付這些這影響。如果這些個(gè)別點(diǎn)的變化可以保持不變,，那么就能夠相當(dāng)大地簡(jiǎn)化AOI編程。經(jīng)研究得到的結(jié)論是,，由于無(wú)鉛產(chǎn)生的影響,，圖形對(duì)照系統(tǒng)無(wú)法得到適合的檢查結(jié)果，這是因?yàn)楹细竦臉悠纷兓?。更加可行的方法是,，取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級(jí),。如果在現(xiàn)在使用的工藝中,，出現(xiàn)了一個(gè)新的變化，就要增加一個(gè)級(jí)別,，來(lái)保證檢查的性,。所有認(rèn)識(shí)到的和已知的缺陷都儲(chǔ)存起來(lái)，他們的類(lèi)型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和數(shù)據(jù)庫(kù)里的檢查程序,。我們沒(méi)有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來(lái)用于詳細(xì)的檢查,。