磁性測(cè)厚儀
- 公司名稱 重慶亞興實(shí)驗(yàn)儀器科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2019/9/25 14:17:27
- 訪問(wèn)次數(shù) 636
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,交通 |
磁性測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵,、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁,、鉻、銅,、琺瑯,、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅,、鋁,、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯,、橡膠,、油漆、塑料等),。
磁性測(cè)厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量,。導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測(cè)量精度高,。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小,、可靠性高,、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),,是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器,,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè),、化工業(yè),、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀,,磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米,,這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型,探頭與主機(jī)分離型,,前者操作便捷,,后者適用于測(cè)非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè),,測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米,。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金,銀等金屬的厚度,。
兩用型
一體兩用型(4張)
儀器由德國(guó)生產(chǎn),,集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能,可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度,。如:
* 鋼鐵上的銅,、鉻、鋅等電鍍層或油漆,、涂料,、搪瓷等涂層厚度。
* 鋁,、鎂材料上陽(yáng)極氧化膜的厚度,。
* 銅、鋁,、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度,。
* 鋁,、銅、金等箔帶材及紙張,、塑料膜的厚度,。
* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn),、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn),。
分體兩用型(4張)
儀器特點(diǎn)
采用雙功能內(nèi)置式探頭,自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料,,并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行精確測(cè)量,。
符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu),可以在任何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù),。
采用手機(jī)菜單式功能選擇方式,,操作十分簡(jiǎn)便。
可設(shè)定上下限值,,測(cè)量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí),,儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。
穩(wěn)定性*,,通常不必校正便可*使用,。
技術(shù)規(guī)格
量 程: 0~2000μm ,
電 源: 兩節(jié)5號(hào)電池
常規(guī)型
對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,,如涂層,、鍍層、敷層,、貼層,、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating),。
覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段,。為使產(chǎn)品化,,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求,。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法,,光截法,電解法,,厚度差測(cè)量法,,稱重法,X射線熒光法,,β射線反向散射法,,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等,。這些方法中前五種是有損檢測(cè),,測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn),。
X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍較小,。因有放射源,,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層,、雙鍍層,、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用,。