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MAIA3 MAIA3掃描電子顯微鏡

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MAIA3

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TESCAN泰思肯公司簡介


TESCAN是一家專注于微觀形貌,、結(jié)構(gòu)和成分分析的科學(xué)儀器的跨國公司,是知名的電子顯微儀器制造商,,總部位于電鏡制造基地-捷克布爾諾,,且已建立起國際的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),在捷克,、法國和美國擁有4家研發(fā)中心,、2個(gè)生產(chǎn)基地以及6家海外子公司,已有超過60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史,。其產(chǎn)品主要有電子顯微鏡,、聚焦離子束系統(tǒng)、多通道全息顯微鏡及相關(guān)分析附件和軟件,,正被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué),、生物、生化,、農(nóng)業(yè),、材料科學(xué)、冶金,、化學(xué),、石油、制藥,、半導(dǎo)體和電子器件等領(lǐng)域中,。

作為科學(xué)儀器的主要供應(yīng)商之一,TESCAN正為其在設(shè)計(jì),、研發(fā)和制造掃描電子顯微鏡及掃描電子顯微鏡在不同領(lǐng)域的應(yīng)用方面樹立良好的聲譽(yù)和品牌,。目前TESCAN的產(chǎn)品和解決方案已經(jīng)在微納米技術(shù)領(lǐng)域取得了優(yōu)勢的地位,創(chuàng)造了掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術(shù),、聚焦離子束與飛行時(shí)間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術(shù)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù),,也是行業(yè)領(lǐng)域的先行者。TESCAN憑借優(yōu)異的性能贏得越來越多的用戶認(rèn)可,,目前生產(chǎn)的各系列電鏡在世界范圍內(nèi)受到廣泛的好評,。從2000年至今已有2500多臺電鏡積極地服務(wù)于全球客戶

 

TESCAN中國

 

TESCAN于2009年正式進(jìn)入中國市場,,成立了TESCAN CHINA中國分公司,,總部設(shè)在上海,且在北京,、上海兩地建立了DEMO實(shí)驗(yàn)室,,在北京,、上海、廣州,、重慶,、南京、武漢,、西安,、無錫、蘇州等城市設(shè)立9個(gè)維修站,。TESCAN中國公司擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的售前應(yīng)用和售后服務(wù)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),,在上海的應(yīng)用中心有包含鎢燈絲電鏡、場發(fā)射電鏡,、FIB以及電制冷能譜儀,、電鏡制樣設(shè)備等全系列產(chǎn)品的演示培訓(xùn)平臺,為國內(nèi)用戶提供參觀,、交流和學(xué)習(xí)的平臺。

 

在進(jìn)入中國的短短幾年內(nèi),,TESCAN已逐步建立起了自己的品牌,,得到了廣大客戶的認(rèn)同。TESCAN在中國的高速發(fā)展得益于產(chǎn)品優(yōu)異的性能,、快捷的售后服務(wù)以及致力于成就客戶的信念,,未來TESCAN中國將持續(xù)提升個(gè)性化服務(wù),為國內(nèi)用戶提供更全面,、更專業(yè)的綜合解決方案,!

 

場發(fā)射掃描電鏡

價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 冷場發(fā)射
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保

MAIA3掃描電子顯微鏡多功能探測器及高空間分辨率,使 MAIA3 型超高分辨掃描電鏡能觀察到樣品精細(xì)的表面細(xì)節(jié),。這對于納米材料的綜合表征,,半導(dǎo)體工業(yè)中對電子束敏感樣品及未鍍膜的生物樣品等非導(dǎo)電樣品的成像都非常適合。

MAIA3掃描電子顯微鏡

突出特點(diǎn)

Triglav™- 新型超高分辨率(UHR) 電子光學(xué)鏡筒

  • TriLens™ 物鏡系統(tǒng):*的電子束無交叉模式與三物鏡相結(jié)合,;
  • 具有多個(gè) SE 及 BSE 探測器的探測系統(tǒng),;
    • TriSE™+TriBE™
  • Triglav™ - 低加速電壓下的超高分辨率: 1 nm ( 1 keV ), 0.7 nm ( 15 keV );
  • EquiPower™技術(shù)進(jìn)一步提高電子束的穩(wěn)定性,;
  • 電子束流高達(dá) 400 nA,,并能實(shí)現(xiàn)電子束能量的快速改變;
  • 優(yōu)化的鏡筒幾何設(shè)計(jì)大可容納8”晶圓
  • 實(shí)時(shí)電子束追蹤技術(shù)(In-Flight Beam Tracing™)可對電子束實(shí)時(shí)優(yōu)化,;
  • 擴(kuò)展的低真空模式,,樣品室氣壓能達(dá)到 500 Pa,實(shí)現(xiàn)不導(dǎo)電樣品的觀測,;
  • TriBE™具有三個(gè) BSE 探測器,,可以選擇不同立體角的信號進(jìn)行采集。位于鏡筒內(nèi)部的 Mid-Angle BSE 和 In-Beam LE-BSE 探測器,分別用于檢測中角及軸向的高角背散射電子,,而樣品室的 BSE 探測器用于探測低角背散射電子,。三個(gè)探測器可以提供不同襯度的圖像,并且能探測到低于 200 eV 的低能背散射信號,;
  • TriSE™具有三個(gè) SE 探測器,,所有工作模式下二次電子信號的采集都進(jìn)行了優(yōu)化。位于鏡筒內(nèi)部的 In-Beam SE 探測器能在短工作距離下采集二次電子,,SE ( BDM ) 探測器用于電子束減速模式下的超高分辨成像,。In-Chamber SE 探測器能提供形貌襯度和立體感;
  • 電子束減速技術(shù)(BDT)可在低至 50 eV 的低電子束能量下實(shí)現(xiàn)出色的分辨率(選配),。

MAIA3

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