Park原子力顯微鏡NX20主要目的是對(duì)樣品進(jìn)行缺陷檢測(cè),。

而Park原子力顯微鏡NX20所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯(cuò)誤的存在。Park NX20,，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡,，憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，在半導(dǎo)體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚(yáng),。

強(qiáng)大全面的分析功能

具備*的功能,，可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因，并幫助

客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案,。的精密度為您帶來高分辨率數(shù)

據(jù),，讓您能夠更加專注于工作。與此同時(shí)，真正非接觸掃描模式讓探針*更耐用,，無需為頻繁更換探針而耗費(fèi)大量的時(shí)間和金錢,。

凝聚著具創(chuàng)新的AFM技術(shù)

1. 100 μm x 100 μm掃描范圍的XY平板掃描器

XY平板掃描器，采用壓電堆棧設(shè)計(jì),，減少傳統(tǒng)掃描過程中XY的正交影響,，具有高速的響應(yīng)頻率，實(shí)現(xiàn)精確的樣品納米級(jí)掃描,。

即便是*次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作

ParkNX20擁有業(yè)界較為便捷的設(shè)計(jì)和自動(dòng)界面,，讓你在使用時(shí)無需花費(fèi)大量

的時(shí)間和精力，也不用為此而時(shí)時(shí)不停的指導(dǎo)初學(xué)者,。借助這一系列特點(diǎn),，您

可以更加專注于解決更為重大的問題，并為客戶提供及時(shí)且富有洞察力的失效

分析報(bào)告,。

Park NX20 可以滿足科研工作者需要的多種掃描模式,，并能滿足您的所有研究需求。

表面粗糙度測(cè)量

  真正非接觸模式

  D輕敲模式

電學(xué)性能測(cè)量

  導(dǎo)電AFM (ULCA和VECA)

  靜電力顯微鏡(EFM)

  壓電力顯微鏡（PFM）

  掃描電容顯微鏡(SCM)

  掃描開爾文探針顯微鏡 (SKPM)

  掃描電阻顯微鏡(SSRM)

  掃描隧道顯微鏡(STM)

  光電流顯微鏡(Tr-PCM)