超高速熒光成像系統(tǒng)(面掃描,,低損傷)
- 公司名稱 上海昊量光電設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2021/6/2 9:46:18
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激光器調(diào)制器,激光測量加工設(shè)備,光學(xué)部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統(tǒng)掃描系統(tǒng),探測器光子計(jì)數(shù)器,專用實(shí)驗(yàn)設(shè)備,相機(jī)
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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超高速熒光成像系統(tǒng)(面掃描,,低損傷)
技術(shù)服務(wù)人員:李工(William)
IMA™是一種超高速且一體化的可定制高光譜顯微鏡平臺,,具有高空間分辨率和光譜分辨率。*集成的系統(tǒng)可快速映射VIS-NIR-SWIR光譜范圍內(nèi)的漫反射,,透射率,,光致發(fā)光,電致發(fā)光和熒光,?;诟咄咳殖上駷V波器,IMA™比基于掃描類型光譜儀的高光譜系統(tǒng)更快,,更高效,。
IMA™可實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的材料分析,如太陽能電池和鈣鈦礦的表征,,成分,,應(yīng)力,材料缺陷等的映射,,光譜信息的監(jiān)測,,單個發(fā)射器強(qiáng)度的變化,,波長漂移或光譜帶寬變化,。
Photon Etc.的IMA™可在400至1700 nm范圍內(nèi)成像,,帶寬為3 nm,,能夠測量光電特性,如電壓開路和外量子效率,,并可對材料中的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的檢測和表征,這非常適于半導(dǎo)體器件(GaAs,,SiC,CdTe,,CIS,,CIGS等)的質(zhì)量控制,。
超高速熒光成像系統(tǒng)(面掃描,低損傷)IMA™覆蓋的光譜范圍非常適用于在第二個生物窗口中激發(fā)的熒光的空間和光譜識別和測量,。通過可能集成暗視野照明模塊,它成為檢測嵌入在細(xì)胞中的納米材料的成分和位置或活體,體外和未染色生物樣品的復(fù)雜分析的特殊工具;有機(jī)和無機(jī)物質(zhì)的特性。例如,,單壁納米管(SWNT)發(fā)射帶窄(~20nm),,每個帶對應(yīng)于*的物種(手性),。使用IMA™,,可以在表面或活細(xì)胞中以單一SWNT空間分辨率分離這些物種,。生物學(xué)家會喜歡使用它做無損分析,,因?yàn)槠漭^弱的組織吸收,,更高的穿透深度和有限的自發(fā)熒光等特性,。
應(yīng)用案例:
1,、 多路復(fù)用-碳納米管的空間位置和光譜的識別
在玻璃表面上SCD懸浮HiPco碳納米管的偽彩熒光成像,。每一種顏色(17種)對應(yīng)一個光譜,,如下圖所示:
2,、 不均勻性和缺陷成像-鈣鈦礦器件的Absolute luminescence成像
頂部圖像表示使用C60作為ETL的鈣鈦礦電池的源自EL的準(zhǔn)費(fèi)米能級分裂的Absolute 成像,。下圖是電流轉(zhuǎn)換效率的fT的成像,。
3,、降解和樣品形成-鈣鈦礦晶體的光致發(fā)光成像
黑白圖:770nm波長激發(fā)的PL成像
彩色圖:PL中心波長的偽彩圖,。
底部圖:從高光譜數(shù)據(jù)中提取的兩個PL光譜-見圖片中相應(yīng)位置
4,、細(xì)胞標(biāo)記-金納米粒子暗場成像
A)用金納米顆粒(60nm大?。?biāo)記的人乳腺癌細(xì)胞的暗視野圖像,
B)在550nm處的單色圖像,。 在PCA后標(biāo)記為綠色的GNP
C)乳腺細(xì)胞的放大
D)在不同區(qū)域GNPs的光譜,,在550nm處的峰確認(rèn)為單個60nmNPs的峰,沒有強(qiáng)的紅移峰證明沒有聚合的NPs,,高光譜相機(jī)沒有在細(xì)胞之間的區(qū)域中檢測到任何GNPs,。
產(chǎn)品特點(diǎn)
l 快速全視野成像
l 高空間分辨率和光譜分辨率
l 可定制
l 無損分析
l 光譜分為可從400-1700nm
主要應(yīng)用
l 進(jìn)行復(fù)雜的材料分析,如太陽能電池表征和半導(dǎo)體質(zhì)量控制(例如:鈣鈦礦,,GaAs,,SiC,CIS,,CIGS等),。
l 研究復(fù)雜環(huán)境中的IR標(biāo)記,包括活細(xì)胞和組織,。 例如,,在第二生物窗口中發(fā)射的IR熒光團(tuán)的光譜異質(zhì)性。
l 檢索暗場圖像并獲得透明和未染色樣品(如聚合物,,晶體或活細(xì)胞)的對比度,。
主要參數(shù):
AL RANGE | VIS - SWIR Model | |
VIS | SWIR | |
SPECTRAL RESOLUTION | < 2.5 nm | < 4 nm |
CAMERA | CCD, EMCCD, sCMOS | ZephIR 1.7 |
EXCITATION WAVELENGTHS | 405, 447, 532, 561, 660, 730, 785 or 808 nm | |
MICROSCOPE | Upright or Inverted; Scientific Grade | |
SPATIAL RESOLUTION | Sub-micron | |
MAXIMUM SAMPLE SIZE | 10 cm x 10 cm | |
X, Y TRAVEL RANGE | 76 mm x 52 mm | |
Z-STAGE RESOLUTION | 100 nm | |
ILLUMINATION | Diascopic, Episcopic, LED, HG, | |
WAVELENGTH ABSOLUTE ACCURACY | 0.25 nm | |
VIDEO MODE | Megapixel camera for sample visualization | |
DATA PROCESSING | Spatial filtering, statistical tools, spectrum extraction, data normalization, spectral calibration, overlay, central position map, etc. | |
HYPERSPECTRAL DATA FORMAT | HDF5, FITS | |
SINGLE IMAGE DATA FORMAT | HDF5, CSV, JPG, PNG, TIFF |