THz-NeaSNOM 太赫茲近場光學顯微鏡

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公司名稱 QUANTUM量子科學儀器貿(mào)易（北京）有限公司
品牌 其他品牌
型號 THz-NeaSNOM
產(chǎn)地德國
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2024/4/18 10:44:47
訪問次數(shù) 3629

產(chǎn)品標簽

近場光學顯微鏡太赫茲飛秒激光 THz-NeaSNOM SNOM

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公司介紹 主營產(chǎn)品

我們是誰
美國Quantum Design公司是科學儀器制造商,，其研發(fā)生產(chǎn)的系列磁學測量系統(tǒng)及綜合物性測量系統(tǒng)已成為業(yè)內(nèi)進的測量平臺，廣泛分布于全球材料,、物理,、化學、納米等研究域的科研實驗室,。Quantum量子科學儀器貿(mào)易（北京）有限公司(暨Quantum Design中國子公司) 成立于2004年,，是美國Quantum Design公司設立的諸多子公司之，在全權(quán)負責美國Quantum Design公司本部產(chǎn)品在中國的銷售及售后技術支持的同時,，還致力于和范圍內(nèi)物理,、化學、生物域的科學儀器制造商進行密切合作,，幫助中國市場引進更多全球范圍內(nèi)的質(zhì)設備和技術,，助力中國科學家的項目研究和發(fā)展。
我們的理念
Quantum Design中國的長期目標是成為中國與進行進技術,、進儀器交流的重要橋頭堡。助力中國科技發(fā)展的十幾年中,，Quantum Design中國時刻保持著積進取,、不忘初心、精益求精的態(tài)度,，為中國科學家提供更質(zhì)的科學和技術支持,。隨著中國科學在舞臺變得愈加舉足輕重，Quantum Design中國將繼續(xù)秉承“For Scientist, By Scientist”的理念,，助力中國科技蓬勃發(fā)展,，助力中國科技在騰飛！
我們的團隊
Quantum Design中國擁有支具備強大技術背景,、職業(yè)化工作作風的團隊,，并致力于培養(yǎng)并引進更多博士業(yè)技術人才。目前公司業(yè)務團隊高學歷業(yè)碩博人才已占比超過70%以上,，高水平人才的不斷加入和日益密切的團隊配合幫助QD中國實現(xiàn)連續(xù)幾年銷售業(yè)績的持續(xù)增長
我們的服務
Quantum Design中國擁有完善的本地化售前,、售中和售后服務體系。國內(nèi)本地設有價值超過50萬美元的備件庫,，用于加速售后服務響應速度,；同時設有超過300萬美元的樣機實驗室，支持客戶對設備進行進步體驗和深度了解,。 “不僅提供超的產(chǎn)品,，還提供超的售后服務”這將是Quantum Design中國區(qū)別于其他科研儀器供應商的重要征，也正成為越來越多科學工作者選擇Quantum Design中國的重要原因,。

展開

PPMS,，MPMS,，低溫磁學，表面成像,，樣品制備,，生命科學儀器

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產(chǎn)地類別	進口	應用領域	化工,能源,電子,電氣,綜合

太赫茲近場光學顯微鏡 THz-NeaSNOM---30nm光學信號空間分辨率

產(chǎn)品簡介：

太赫茲（THz）光源波長較大，般在300微米左右,。由于衍射限的存在,，THz遠場測量系統(tǒng)的光學空間分辨率般被限制在150微米左右。該THz光遠場測量結(jié)果的準確度經(jīng)常無法滿足對材料科學研究,，尤其是需要納米分辨率的微細尺度材料分布研究（例如半導體芯片中各個組成：源,，漏，柵）的實驗,。THz-NeaSNOM近場光學顯微鏡的出現(xiàn)為此難題提供了個很好的解決方案,。

德國neaspec公司與Fraunhofer IPM在neaspec公司neaSNOM近場光學顯微鏡的基礎上，已經(jīng)成功研發(fā)了套易用使用且THz系統(tǒng)的空間分辨率達到30nm的實驗設備,。

太赫茲近場光學顯微鏡THz-NeaSNOM主要技術參數(shù)與點：

+于30nm的空間分辨率

+常用THz光范圍：0.1-3THz

+寬波段拋面鏡

+THz研究可使用商業(yè)化的AFM探針

+THz-TDS使用飛秒激光光源

+簡單易用,，穩(wěn)定性高

應用案例：

THz-NeaSNOM 30nm空間分辨率

THz-NeaSNOM近場光學顯微鏡（下圖左）對半導體結(jié)構(gòu)的測量結(jié)果圖。

該結(jié)果表明硅襯底（上圖左,，灰色）上的SiO（氧化硅）的尺寸大約在1.5×1 平方微米,。通過分析左側(cè)的高度數(shù)據(jù)，可以知道該氧化硅結(jié)構(gòu)僅僅只有大約22納米厚度,。雖然該層狀結(jié)構(gòu)非常薄,，但THz-NeaSNOM近場光學顯微鏡（下圖左）在測量高度的同時仍然能夠記錄該結(jié)構(gòu)與襯底的近場光學信號的明顯不同襯度的結(jié)果。該THz-NeaSNOM近場光學顯微鏡不僅在測量非常薄樣品的時候靈敏度非常高,，而且通過分析近場光學信號數(shù)據(jù)（下圖右）也證實了它超高的空間分辨率（~25-30nm）,。