熒光X射線鍍層測厚儀性能優(yōu)勢(shì)

快速

1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測量精度要求,。

方便

熒光x射線測厚儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國際上良好的電制冷半導(dǎo)體探測器,，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測試精度更高,。并且不用液氮制冷,，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便,，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低,。

無損

測試前后，樣品無任何形式的變化,。

直觀

實(shí)時(shí)譜圖,，可直觀顯示元素含量。

測試范圍廣

熒光X射線鍍層測厚儀,，是一種物理分析方法,，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測試從Na到U,。

可靠性高

由于測試過程無人為因素干擾,，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高,。所以,，其測量的可靠性更高。

滿足不同需求

測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,，操作方便,、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),，設(shè)定儀器參數(shù),，并就有多種良好的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣,，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要,。

性價(jià)比高：相比化學(xué)分析類儀器，熒光x射線測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的,，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受,。

簡易

對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護(hù)簡單方便。

全自動(dòng)智能控制方式,，一鍵式操作!

開機(jī)自動(dòng)自檢,、復(fù)位；

開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),，升起Z軸測試平臺(tái),，方便放樣；

關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),，下降Z軸測試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦,；

直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)；

點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕,，自動(dòng)完成測試并顯示結(jié)果,。

熒光X射線鍍層測厚儀技術(shù)指標(biāo)

產(chǎn)品名稱：熒光X射線鍍層測厚儀

X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度：小于0.1um

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）

同時(shí)檢測元素：多24個(gè)元素，多達(dá)5層鍍層

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

SDD探測器：分辨率低至135eV

良好的微孔準(zhǔn)直技術(shù)：小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個(gè)工業(yè)高清攝像頭

準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm,、Ф0.1mm,、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

部分產(chǎn)品

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