JAX 超快光聲顯微成像系統(tǒng)
- 公司名稱 北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) JAX
- 產(chǎn)地 法國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/4/17 14:55:26
- 訪問次數(shù) 3476
聯(lián)系方式:銷售部18611639868 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!
日本電子電子顯微鏡,,德國(guó)Xhuber公司G670系列大型快速高分辨X射線粉末衍射儀,,美國(guó)ISS公司穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀,德國(guó)Hilgers公司Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,汽車及零部件,綜合 |
---|
聲波(超聲波)已經(jīng)作為一種常見無(wú)損檢測(cè)手段,,在工業(yè)或醫(yī)療領(lǐng)域的宏觀范圍內(nèi)的測(cè)試得到廣泛應(yīng)用,。另一方面,我們每天使用的電子器件裝置越來(lái)越集成和復(fù)雜,,尺寸越來(lái)越小,。傳統(tǒng)的表征測(cè)試手段越來(lái)越具有局限性,在納米尺度范圍內(nèi)需要新的測(cè)量裝置進(jìn)行材料的表征測(cè)試,;
JAX超快光聲顯微成像系統(tǒng)采用新一代的泵浦探測(cè)pump-probe技術(shù)即異步光學(xué)采樣技術(shù)(ASynchronous OPtical Sampling Imagery System,,ASOPS). 此技術(shù)源于光學(xué)外差法采樣技術(shù),是波爾多大學(xué)和法國(guó)CNRS共同合作開發(fā)的技術(shù),,Neta的產(chǎn)品來(lái)源于此項(xiàng)技術(shù)。這種授權(quán)的新技術(shù)可在在納米尺度上表征材料,,而不接觸破壞樣品,。Neta使用這項(xiàng)技術(shù),采用新的工業(yè)設(shè)計(jì),,具有先進(jìn)的性能,,高可靠性和可維護(hù)性。我們的研發(fā)團(tuán)隊(duì)進(jìn)行了專業(yè)的工業(yè)化設(shè)計(jì),,使得Neta成為一種易于使用和即插即用的產(chǎn)品,,可以像普通顯微鏡一樣,,非專業(yè)人士即可操作。
l 即時(shí)可用ASOPS 系統(tǒng)
l 一鍵采集測(cè)量,;
l 具有Mapping成像能力,;
l 非破壞/無(wú)接觸探測(cè)
l 高分辨率和高精度
l 基于新一代脈沖光纖激光器
JAX超快光聲顯微成像系統(tǒng)采用單路或雙路的泵浦/探測(cè)模式的飛秒激光器,重復(fù)頻域在數(shù)百兆赫茲(如下圖),。它被稱為外差法技術(shù),,具有高穩(wěn)定性和高精度等優(yōu)點(diǎn),允許用戶一鍵采集一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的所有參數(shù),,比傳統(tǒng)技術(shù)快10 000到100 000倍,。頻移允許通過一個(gè)雙光源即時(shí)掃描并在數(shù)個(gè)毫秒內(nèi)獲得樣品信息,探測(cè)時(shí)間分辨率小于1ps,,這就是異步光學(xué)采樣技術(shù),。一旦樣品上單點(diǎn)測(cè)量結(jié)束,用戶可以移動(dòng)樣品并開始掃描整個(gè)表面,,以便創(chuàng)建所研究參數(shù)的Mapping成像,。
圖1ASOPS 測(cè)量示意圖
JAX-進(jìn)行皮秒聲波的產(chǎn)生和檢
JAX-一般使用反射模式,基于正置結(jié)構(gòu),,近紅外激勵(lì)pump模式,。在這種模式下,由近紅外飛秒激光正面輻照樣品上表面,,樣品內(nèi)產(chǎn)生超聲波,,并用另外一束飛秒激光進(jìn)行聲波檢測(cè)。在圖2的示例中,,樣品是硅襯底上的250納米的鎢薄膜,。被激發(fā)的聲波穿透鎢薄膜,當(dāng)?shù)竭_(dá)鎢和硅的界面時(shí),,部分聲波被反射回到表面,,并被探測(cè)激光作為回聲檢測(cè)到。聲波再次被鎢和空氣界面反射,,并在結(jié)構(gòu)層中傳輸,,這樣產(chǎn)生多次的回聲信號(hào)。
圖2鎢涂層厚度測(cè)量
自動(dòng)信號(hào)處理
特定開發(fā)的程序用來(lái)提取回聲信號(hào)之間的飛行
時(shí)間F和衰減a,;從內(nèi)部接觸界面或其它亞表面非均勻聲學(xué)區(qū)域返回到表面的應(yīng)變脈沖被檢測(cè)為一系列回波信號(hào),。例如,通過薄膜來(lái)回傳播的應(yīng)變脈沖產(chǎn)生一系列衰減的回波,,從中可以得到一個(gè)超聲波衰減或超聲波色散的回波,,通過這些信號(hào)特征進(jìn)而得到薄膜厚度。固體表面附近的折射率和消光系數(shù)受到返回的應(yīng)變脈沖的擾動(dòng),, 從而導(dǎo)致光學(xué)反射率或透射的變化(探測(cè)光的光學(xué)吸收深度內(nèi)),。測(cè)量的時(shí)間回波形狀是由探測(cè)光吸收譜形狀和應(yīng)變脈沖空間輪廓的空間積分決定的,。
物理屬性提取及成像
通過回波之間飛行的時(shí)間可以推斷出鎢的厚度,而回聲的衰減等信息告訴我們涂層黏附的質(zhì)量,。ASOPS快速測(cè)試能力使得在合理的測(cè)試時(shí)間內(nèi)對(duì)器件的成像測(cè)試如今成為可能,,ASOPS技術(shù)代替了傳統(tǒng)泵浦探測(cè)中的分散多點(diǎn)測(cè)試和估算。圖4這里的案例,,是以50微米的空間分辨率進(jìn)行了1000個(gè)點(diǎn)的測(cè)試,。
圖3左側(cè):鎢層的薄膜厚度(納米);右側(cè):黏附質(zhì)量