Crossbeam340/5 德國蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡
參考價(jià) | ¥ 17 |
訂貨量 | ≥1 臺(tái) |
- 公司名稱 深圳市廣潤(rùn)自動(dòng)化/藝橋科技(香港)有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型號(hào) Crossbeam340/5
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2019/12/30 14:52:34
- 訪問次數(shù) 2062
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微間距LED 銀漿高速檢測(cè)機(jī),、LED金線結(jié)構(gòu)3D檢測(cè),、微米級(jí)3D測(cè)量?jī)x、LED燈絲檢查包裝機(jī),,三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),,熱分析儀、差示掃描量熱儀,、熱重力分析儀,、熱機(jī)械分析儀、動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀等,,精研一體機(jī),、3D視頻顯微鏡、正置材料顯微鏡,、三離子束切割儀等,,
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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德國蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡
提高您的FIB樣品的測(cè)試加工效率
通過FIB智能的刻蝕策略,其材料移除速率可提升高達(dá)40%。
在鎵離子類型的FIB-SEM中采用了大離子束束流,。使用高達(dá)100nA的離子束束流可顯著節(jié)約時(shí)間,,同時(shí)具有良好的FIB束斑形狀,,從而獲得高分辨率,。得益于智能的FIB掃描策略,移除材料時(shí)高效且精準(zhǔn),??勺詣?dòng)批量制取樣品,例如截面,,TEM樣品薄片或任何使用者自定義的圖形,。
在FIB-SEM分析中體驗(yàn)優(yōu)異的三維空間分辨率
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可使用蔡司Atlas
5軟件擴(kuò)展您的Crossbeam,它是一個(gè)針對(duì)快速而準(zhǔn)確的三維斷層成像的軟硬件包,。使用Atlas 5中集成的三維分析模塊可在三維斷層成像的過程中進(jìn)行能譜分析蔡司Crossbeam將Gemini電子束鏡筒和定制的聚焦離子束鏡筒結(jié)合起來,,從而獲得高精度與速度。因此FIB-SEM的斷層成像可獲得優(yōu)異的三維空間分辨率和各向同性的三維體素尺寸,。使用Inlens EsB探測(cè)器,,探測(cè)深度小于3nm,可獲得表面敏感的,、材料成分襯度圖像,。
德國蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡