雙電測電四探針方阻電阻率測試儀
本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校,、科研部門,，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。液晶顯示,，無需人工計算，并帶有溫度補償功能,，電阻率單位自動選擇,，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,，無需人工多次和重復設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出,，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,，運輸安全,、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù),，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,，同時顯示液晶顯示：電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導率,，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求,。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準,。利用電流探針,、電壓探針的變換，進行兩次電測量,，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,，它與單電測直線或方形四探針相比,，大大提高精zhun度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。
廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜,，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié),、濺射、涂覆,、涂布層,，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導體材料,、薄膜材料方阻測試
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層,、外延層,、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓,、太陽能電池,、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等）,，金屬膜,，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜,，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物,，導電性塑料,，導電性橡膠，導電性薄膜,，金屬薄膜，抗靜電材料,， EMI 防護材料,，導電性纖維，導電性陶瓷等
參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□
2.電阻率范圍：10-6～2×106Ω-cm
3.測試電流范圍：0.1μA ,，1μA,，10μA，100µA,，1mA,，10mA，100 mA
4.電流精度：±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度：≤0.3%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 ,、電導率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結(jié)果）
10.選購功能: 選購1.pc軟件,； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭,； 選購4.測試平臺
11.測試探頭：  探針間距選購：1mm,；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針

雙電測電四探針方阻電阻率測試儀