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GDJD-600型高、低溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試,，同時測試4個樣品）
- 公司名稱 北京東方圓通科技發(fā)展有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2017/7/7 10:30:46
- 訪問次數(shù) 642
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GDJD-600型高、低溫介電性能測量系統(tǒng)
GDJD-600型高低溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試,，同時測試4個樣品）
關(guān)鍵詞：高低溫介電測量儀,，高、低溫介電測量系統(tǒng),，
產(chǎn)品介紹：
GDJD-600型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高低溫下材料的介電性能測
試與分析,，包括介電常數(shù),、介電損耗、電容等參數(shù),，同時測試出測試材料的其
他阻抗參數(shù),，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 ,。
一,、產(chǎn)品優(yōu)勢:
1.實現(xiàn)室溫-140°C-800°C的低高溫介電轉(zhuǎn)換測量
2.四通道測試,可以同時測試1-4個樣品，方便快捷
3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)
二,、《符合ASTMD150和 D2149-97標準>>
<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的*方法;》
三,、產(chǎn)品特點
1.可以在低高溫、寬頻,、真空條件下測量固體,、薄膜樣品的介電性能；
2.可以分樣品的頻率譜,、溫度譜,、偏壓譜、阻抗譜,、介電譜,、時間譜等測量功能;
3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,，電容C,，損耗D，電感L,，品質(zhì)因數(shù)Q,，阻抗Z等物理量;以實現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線,，時間和電壓變化的曲線,；
4、可提供塊體,，薄膜,，單樣品，四樣品夾具,，滿足不同測試要求,。
主要技術(shù)指標：
測量溫度： -160°C-800°C | 升溫斜率：2°C /min |
頻率范圍：20-30MHZ | 精度：0.05% |
測量精度： ±0.1°C | 控溫精度：±1°C（PID精準控溫） |
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化,，電極阻抗低,、絕緣好 | 測試方法：兩線法或四線法 |
測試通道數(shù)：1-4通道 | 一次可測樣品數(shù)：1-4個樣品 |
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm,，樣品放置位置靈活,，可快捷安裝和拆卸 | 測量精度：0.05% |
AC電平： 0V 到 1V rms | 直流偏壓：0到±40V/100mA |
數(shù)據(jù)存儲：EXCEL表格等多種格式 | 加熱方式：電阻絲加熱 |
真空度范圍：100 Pa-1大氣壓 | 電極材料：鉑金 |
數(shù)據(jù)傳輸：4個USB接口 | 儀器通訊：USB或GPIB |
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