Fischerscope X-RAY XUL除了可以測量鍍層厚度外,，還可以計算合金層中各元素的含量。至于需要測量電鍍槽內(nèi)的金屬離子的濃度也是十分簡單,。 XUL 是結(jié)合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設計,。此儀器是采用能量散射X-射線熒光測量原理，符合DINENISO3497及ASTM B568標準來進行非破壞及不接觸的測量,。XAN-DDP X-射線光譜分析是透過次級輻射所產(chǎn)生的不同能量特性來辨認元素,；其原理是由X-射線管產(chǎn)生初級X-射線熒光照射在受檢物質(zhì)表面上時，元素的電子層內(nèi)的電子將被激發(fā),，而因為能量的原因,；一連串的電子補充到被激發(fā)的電子“空檔”。由于能量的改變,，特定的元素便會產(chǎn)生特定的輻射,，再用半導體或其他合適的比例接收器來收集輻射訊號，從能量及強度的大小進行分析便可以識別元素及進行定量分析了,。 本公司專業(yè)維修膜厚儀X光管更換 還可為客戶測試對比樣品 出售/回收二手FISCHER膜厚儀等等錦霖公司：鄧生： 地址：寶安區(qū)沙井新橋洋下大道8號凱悅大廈1704