X熒光鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)
參考價(jià) | ¥ 16 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 深圳市鑫捷偉科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 韓國(guó)
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2019/3/22 13:02:59
- 訪問(wèn)次數(shù) 780
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X熒光鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測(cè)厚儀可用于測(cè)量一般工件、PCB及五金,、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度,。只需要10-30秒即可獲得測(cè)量結(jié)果, zui小測(cè)量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測(cè)量范圍:0-35um;
X熒光鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)其特點(diǎn)為:激光自動(dòng)對(duì)焦、全自動(dòng)XYZ樣片臺(tái),、簡(jiǎn)易自動(dòng)對(duì)位,、具溫度補(bǔ)償功能、十字線自動(dòng)調(diào)整,、可自行設(shè)計(jì)報(bào)告格式,、多鍍層及電鍍液分析、具有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格,、五個(gè)可選準(zhǔn)直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm),。是非破壞性測(cè)厚儀器的*機(jī)型。測(cè)量精度:誤差控制在±5%.
熒光X-射線微小面積鍍層厚度測(cè)量?jī)x的特征
- 可測(cè)量電鍍,、蒸鍍,、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
- 可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量,避免直接接觸或破壞被測(cè)物,。
- 薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外,,也適用于無(wú)鉛焊錫的應(yīng)用,。
- 備有250種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
熒光X-射線儀器的測(cè)量原理
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài),。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái),,而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái),。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度,來(lái)進(jìn)行定性和定量分析,。