X射線膜厚儀,，X熒光測厚儀,，X-ray測厚儀

來源：深圳市鑫捷偉科技有限公司 2017年04月28日 11:34

X光金屬鍍層測厚儀銷售Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金,、半導體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度,。只需要10-30秒即可獲得測量結(jié)果, zui小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測量范圍：0-35um;

X光金屬鍍層測厚儀銷售其特點為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺,、簡易自動對位,、具溫度補償功能、十字線自動調(diào)整,、可自行設(shè)計報告格式,、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格,、五個可選準直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的機型,。測量精度：誤差控制在±5%.

X光金屬鍍層測厚儀銷售標準規(guī)格

主機箱
輸入電壓	AC220±10% 50/60HZ
溝通方法	RS-232C
溫度控制	前置放大及機箱溫度控制
對焦	激光自動對焦
樣品對位	激光對位
安全裝置	若測量中箱門打開,，X射線會在0.5秒內(nèi)關(guān)閉
表面泄漏	少于1 SV
多通道分析
通道數(shù)量	1024ch
溫度控制	自動前置放大溫度控制
脈沖處理	微電腦高速處理器
X射線源
X射線管	油冷，超微細對焦（選項）
高壓	0 - 50KV（程控）
管電流	0 - 1mA(程控)
目標靶	W靶（可選Mo或Be）
準直器
種類	固定型或自動型（選項）
固定種類大小	可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm 其他大?。ㄟx項）
自動種類大小	0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm
計算機系統(tǒng)
計算機	IBM相容
顯示器	彩色顯示器
打印機	噴墨彩色打印機
校正
應用	單鍍層,，雙鍍層，合金鍍層,，電鍍液
修正功能	密度修正,，標準樣品再校正
2D、3D隨機位置測量
2D	均距表面測量
3D	表面排列處理測量
隨機位置	任意設(shè)定測量點

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