多功能透射電鏡測試標樣（碳粒金網(wǎng)）（Combined Test Specimen）

多功能透射電鏡測試標樣（碳粒金網(wǎng)）：多孔碳薄膜覆蓋在鍍金的網(wǎng)上（直徑3.05mm）,，石墨化的碳顆粒沉積其上,。通過微孔可觀察到碳顆粒的晶面間距。還可以通過標注鍍金膜上孔內(nèi)碳的沉積率來測定電鏡的污染率,。樣品在3.05mm，200目銅網(wǎng)上,。

訂購信息：

    在透射電鏡觀察的過程中，樣品污染一直是一個影響高分辨成像質(zhì)量的重要原因之一,，尤其STEM越來越被廣泛的應(yīng)用,，由于束斑要比TEM小的多，所以它的污染速率要更快,，不管你是BF還是HAADF有時辛辛苦苦的找到一塊好的區(qū)域,，但掃一幅圖下來就慘不忍睹了。試樣的污染主要是由于鏡筒內(nèi)殘留的碳氫化合物，以及吸附在樣品表面的有機物,，當電子束照射某一區(qū)域時,，向其聚集所致。如何有效地加以改善哪,？

一,， 首先是要改善樣品室的真空衛(wèi)生。

1,， 達到盡可能高的真空度,，一般使用要優(yōu)于2x10-5Pa（使用SIP和TMP的）。

2,， 不要用手去接觸放入真空中樣品桿的前端部分,，即橡皮圈之前。

3,， 樣品桿長期在大氣中暴露,，尤其是在雨季或潮濕地區(qū)，吸附在上面的有機物很難在短時間內(nèi)被抽走,，這樣放入樣品室后就會在一定程度上破壞真空度,。有條件的話配備一個樣品桿預(yù)抽機，不使用的樣品桿可以先放在這里預(yù)抽保持干燥,，同時有的樣品桿預(yù)抽機還帶有烘烤功能,，這樣更有利于污染物的揮發(fā)，像JEOL的 JDS-230F （GATAN的帶嗎,？我沒用過）,。沒有的話，在把樣品取出后再將樣品桿放回到樣品室保持在真空狀態(tài),。

4,， 對于使用DP作為樣品室預(yù)抽的不要超過10分鐘，太長油蒸汽多少會污染一些樣品,。

5,， 樣品桿放入后不要馬上將燈絲或電子槍隔離閥打開，因為在插入的過程中多少會人為的造成一點泄漏,，即使看著真空度很好,，再等待1~2分鐘，等真空穩(wěn)定后再觀察,。

6,， 使用ACD抗污染裝置，每天早上的*件事就應(yīng)該將液氮加上,，它不僅有利于樣品室的真空衛(wèi)生,，而且對SIP的壽命也是有好處的,。它的有效工作時間是7~8小時，所以在中午吃飯前為了確保下午工作不受影響,，應(yīng)該將ACD再補充滿液氮,。當然別忘了，下班前的zui后一件事就是要將加熱棒放入ACD將剩余的液氮考出來,，切記?。?！

7,， 1~3個月要將鏡筒烘烤一次，一般在周末BAKE 60小時左右,。

二,， 使用PLASMA CLEANERZ(等離子清洗機)對樣品進行處理。它是通過活性等離子對樣品進行物理轟擊與化學(xué)反應(yīng)雙重作用,，使被清洗物表面的有機物及氧化層物質(zhì)變成粒子和氣態(tài)物質(zhì),，經(jīng)過抽真空排出，而達到清洗目的,。另外它也可以作為樣品預(yù)抽機使,。

三， BEAM SHOWER（樣品沐?。?zui為經(jīng)濟有效的防污染方法,。*次用這個方法做HAADF，我真是驚異于它的功效,，千萬別小瞧它,。它的原理就是通過強光照射樣品后，可把有機物暫時固定在樣品表面,，在做象CBD和STEM這樣小束斑的工作時它們就不會往束斑下聚集了,，從而減小了污染率。