平流式溶氣加壓氣浮實驗裝置 加壓氣浮實驗裝置 型號：WT-2000

平流式溶氣加壓氣浮實驗裝置工作條件：
環(huán)境溫度：5℃～40℃、處理水量：0.3m3/h,， 做實驗前一定配置好污水加藥混凝沉淀及儀器（包括）濁度儀,、烘箱、量筒,、燒杯等,。電源 220V。
實驗?zāi)康模?br />氣浮法是進行固體分離的一種主要方法,，常被用于分離密度小于或接近于水,，難以用重力自然沉降法去除的懸浮顆粒。氣浮方法很多,，本實驗裝置采用加壓溶氣法,。由于懸浮顆粒的性質(zhì)和濃度、微氣泡的數(shù)量和直徑等多種因素對氣浮效率有影響,，因此，氣浮處理系統(tǒng)的設(shè)計運行參數(shù)常要通過試驗確定,。通過實驗希望達到下述目的 ：
1,、深化對加壓溶氣氣浮系統(tǒng)及其各部分的組成，運行過程及其操作和控制要點,，溶氣水 釋放的表現(xiàn)特征及浮渣的形成的理解,。
2,、加深對懸浮顆粒濃度、操作壓力,、氣固比,、釋氣量與澄清效果間的關(guān)系的理解。
實驗流程原理：
進行氣浮時,，用水泵將污水抽水送至壓力為2—4個大氣壓的溶氣 罐中,，同時注入加壓空氣?？諝庠诠迌?nèi)溶解于加壓的清水或經(jīng)處理的回流水中,，然后使經(jīng)過溶氣的水（溶氣水）通過減壓閥（或釋放器）進水氣浮池 ，此時由于壓力的突然降低,，溶解于加壓的水中的空氣便以微氣泡的形式從水中釋放出來,。微細氣泡在上升的過程中附著懸浮顆粒上，使顆粒的密度減小,，上浮到氣浮池的表面與水分離,，而使雜質(zhì)從水中得以去除。
技術(shù)指標及參數(shù)：
1,、環(huán)境溫度：5℃～40℃
2,、處理水量0.3m3/h，溶氣壓力0.2～0.4 Mpa,，回流比30%
3,、溶氣罐為不銹鋼制；
4,、設(shè)計進,、出水、濁度等： 進水 出水
濁度：50°～100° 5°～15°
顆粒雜質(zhì)：20～80mg/L 2～8 mg/L
pH 6～9 6～9
5,、反應(yīng)池尺寸：長×寬×高=1100mm×400mm×600mm 有機玻璃壁厚度10 mm
6,、裝置外形總尺寸：長×寬×高=1500mm×450mm×1600mm
7、電源 220V單相三線制 功率500W

本方阻測試新產(chǎn)品為薄膜測試提供機械,、電氣兩方面的保護,，在寬廣的量程范圍內(nèi)，使各種電子薄膜能得到準確,、無損的方塊電阻測量結(jié)果,。 
由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大,，而且各種薄膜的機械強度,，允許承受的電壓、電流均不相同,，因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭,，儀器的測試電流分7檔,，可由0.4μA增加到大為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V,，測試電壓和測試電流均可連續(xù)調(diào)節(jié),，給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間,。 
由于儀器設(shè)有恒流源開關(guān),，并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產(chǎn)生的電火花而受到損壞,。 
儀器性能 
方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□,，小分辨率1×10-5Ω/□； 
電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m,，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m,； 
探針壓力：25g～250g； 
探針曲率半徑：25μm～450μm 
（注：探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制）,； 
測試電流分7檔：1μA,、10μA、100μA,、1mA,、10 mA、100 mA,、1000 mA,； 
測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續(xù)可調(diào) 
           （100mA檔）    8～36V連續(xù)可調(diào) 
          （1000mA檔）    8～15V連續(xù)可調(diào)； 
測量方式：手動或自動（配置測試軟件）,； 
測量對象：導電薄膜,、半導體薄膜、電力電容器鋁箔,、各種金屬箔,、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜,；各種半導體材料的電阻率,。