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徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司

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MX-IR/BX-IR透視紅外線半導(dǎo)體顯微鏡

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西努光學(xué)創(chuàng)建于2003 年,,主營工業(yè)顯微鏡及制樣設(shè)備,、鏡片測定設(shè)備,高速攝像系統(tǒng),、工業(yè)內(nèi)窺鏡,、機(jī)器視覺等工業(yè)及科研應(yīng)用的檢測設(shè)備及系統(tǒng)集成。
西努光學(xué)秉承“以光學(xué)為核心,為客戶提供解決方案”的經(jīng)驗思路,,經(jīng)過16年的努力,,成為眾多企業(yè)、高??蒲袉挝惶峁└鞣N專業(yè)化的光學(xué)系統(tǒng)解決方案,。并于2012 年導(dǎo)入SAP 管理系統(tǒng),通過系統(tǒng)資源整合,,為客戶提供更優(yōu)質(zhì),、快捷的專業(yè)化服務(wù)。
2016 年,,我們積極引進(jìn)檢測設(shè)備的同時導(dǎo)入制樣等配套設(shè)備以豐富我們實驗室平臺,,以更好的為客戶提供現(xiàn)場體驗,從微米到納米滿足客戶從制樣到結(jié)果分析的一站式體驗服務(wù),。



奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡,iX高速攝像機(jī),標(biāo)樂金相制樣設(shè)備,威爾遜硬度計,navitar鏡頭,日立掃描電鏡,加拿大WDI光學(xué)設(shè)備

MX-IR / BX-IR透視紅外線半導(dǎo)體顯微鏡詳細(xì)介紹:

非破壞觀察半導(dǎo)體器件內(nèi)部 隨著不斷發(fā)展的電子設(shè)備小型化,、超薄化的需求,半導(dǎo)體器件的封裝技術(shù)也高速進(jìn)化,。使用近紅外線顯微鏡,,可以對SiP(System in Package)、三維組裝,、CSP(Chip Size Package)等用可視觀察無法看到的領(lǐng)域進(jìn)行無損檢查和分析,。 倒裝芯片封裝的不良狀況無損分析
在倒裝芯片的焊接中,組裝后的焊接部分和模塊無法用可見光檢查,。但是,,如果使用近紅外線顯微鏡,則可以在不破壞封裝的前提下,,透過硅觀察IC芯片內(nèi)部,。只要置于顯微鏡下,就可以輕松進(jìn)行不良狀況分析,。對必需用FIB(Focused Ion Beam)處理位置的也有效,。
晶圓級CSP開發(fā)的環(huán)境試驗導(dǎo)致芯片損壞
晶圓級CSP的高溫高濕試驗導(dǎo)致器件的變化,可以用非接觸方式檢查,。此外,,還能可靠的觀察銅引線部分的融解和腐蝕引起的漏電、樹脂部分的剝離等,。


鋁引線部分(內(nèi)面觀察)

焊錫溢出性評價

電極部分(內(nèi)面觀察)

MX-IR / BX-IR透視紅外線半導(dǎo)體顯微鏡針對不同樣品的顯微鏡產(chǎn)品陣容
MX系列產(chǎn)品(半導(dǎo)體檢查型號)

可以用來觀察150~300 mm晶圓等的大型樣品,。只對應(yīng)反射照明觀察。


半導(dǎo)體/FPD檢查顯微鏡 MX61

工業(yè)檢查顯微鏡MX51

BX系列產(chǎn)品(標(biāo)準(zhǔn)型號)


研究級全電動系統(tǒng)
金相顯微鏡 BX61
對應(yīng)反射光觀察和透射光觀察,。       

BXFM(嵌入式設(shè)備型號)

                          
小型系統(tǒng)顯微鏡 BXFM
能嵌入設(shè)備的小型設(shè)計,。         
*有關(guān)IR照相機(jī)和圖像軟件的詳細(xì)信息,,請與。

MX-IR / BX-IR透視紅外線半導(dǎo)體顯微鏡將物鏡等近紅外線觀察裝置搭載于顯微鏡上,,就可以組成紅外線觀察顯微鏡,。 
有關(guān)對應(yīng)的顯微鏡規(guī)格,請參閱各顯微鏡的具體規(guī)格說明,。

LMPlan-IR紅外線觀察用

LMPlan-IR紅外線觀察用

對應(yīng)顯微鏡一覽

紅外線反射觀察 
> MX61A: 可以綜合控制外圍設(shè)備,、對應(yīng)300 mm晶圓的電動型號 
> MX61L/ MX61: 可以對應(yīng)300 mm/ 200 mm 晶圓的電動型號 
> MX51: 可以對應(yīng)150 mm晶圓的手動型號 
> BX51M: 從明視場到熒光,對應(yīng)大范圍觀察的通用型號

紅外線反射透射觀察 
> BX61: 操作省力的電動控制型號 
> BX51: 從明視場到熒光,,對應(yīng)大范圍觀察的通用型號



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