一,、用途
    XPH-300系列偏光熔點測定儀是地質(zhì),、礦產(chǎn)、冶金,、石油化工,、化纖,、半導(dǎo)體工業(yè)檢驗等部門和相關(guān)高等院校高分子等專業(yè)zui常用的專業(yè)實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察,，正交偏光觀察,，錐光觀察以及顯微攝影,，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變,、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測,，有自動P,、I,、D調(diào)節(jié)，及模糊手動調(diào)節(jié)功能,，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設(shè)定溫度值,，儀表顯示準(zhǔn)確、清晰,、穩(wěn)定，對溫度控制可設(shè)定程序,，設(shè)有“上,、下”限自動報警裝置，并可隨時檢查設(shè)定的溫度數(shù)據(jù),，是新一代熔點測溫、控溫裝置,。顯微鏡配置有石膏λ,、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件,。偏光顯微鏡熱臺具有可擴展性，可以接計算機和數(shù)碼相機,，對圖片進行編輯,、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產(chǎn)品,。

二,、技術(shù)參數(shù)：
1.目鏡：

2.物鏡：

 
3.放大倍數(shù)：40X-630X    系統(tǒng)放大倍數(shù)：40X-2600X,。
4.聚光鏡數(shù)值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調(diào)
5.起偏鏡：振動方向360°可調(diào),，帶鎖緊裝置,，可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路，旋轉(zhuǎn)范圍90°內(nèi)置勃氏鏡,，中心,、焦距可調(diào)
7.補償器：λ片(φ18mm，一級紅,，光程差551nm)λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）石英楔子(12x28mm,，Ⅰ-Ⅳ級)
8.調(diào)焦系統(tǒng)：帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微調(diào),，格值為0.002mm
9.電光源：6V/20W鹵素?zé)簦炼瓤烧{(diào)）

 三、系統(tǒng)簡介
偏光熔點測定儀系統(tǒng)是將精密的光學(xué)顯微鏡技術(shù),、*的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、*的計算機圖像處理技術(shù)*地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品,。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像,，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印,。
 
四,、熱臺：
1.顯微精密控溫儀:在 20X 物鏡下工作溫度可達到zui高300 ℃ ,、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設(shè)定，30段溫度編程,，循環(huán)操作,，能準(zhǔn)確反映設(shè)定溫度、爐芯溫度,、樣品的實際溫度,。每段設(shè)定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時間,，升溫速率可調(diào),、精度±0.3 ℃、記憶點讀數(shù),。
  2.顯微加熱平臺:可以隨載物臺移動,、工作區(qū)加熱面積大,、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1,起始溫度室溫,工作區(qū)加熱使用面積至少1X1cm,工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1oC,透光區(qū)域 2mm以上,，可調(diào),顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2,熱臺可以隨載物臺移動,熔點測定 溫度超過100度時,，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭,，請選用長工作距離的 20X,、40X 物鏡
 
五,、系統(tǒng)組成
電腦型偏光熔點測定儀（XPH-300E）：1、偏光顯微鏡 2,、熱臺3,、適配鏡 4、攝像器(CCD) 5,、A/D(圖像采集) 6,、驅(qū)動軟件 7、數(shù)據(jù)線 8,、計算機(選配)
 數(shù)碼型偏光熔點測定儀（XPH-300D）：1、偏光顯微鏡 2,、熱臺 3,、數(shù)碼相機光學(xué)轉(zhuǎn)接口 4,、數(shù)碼相機 
 
六、選購件
1,、高像素成像系統(tǒng)      2.偏光顯微鏡分析軟件