F50薄膜厚度測量儀

自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)

依靠F50的光譜測量系統(tǒng),，可以很簡單快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖,。采用r-θ極坐標移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度,，測試非常快速,，大約每秒能測試兩點,。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。F50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長的移動平臺,，確保能夠做成千上萬次測量,。

系統(tǒng)中預(yù)設(shè)了許多極坐標形、方形和線性的圖形模式,，也可以編 輯自己需要的測試點,。只需掌握基本電腦技術(shù)便可在幾分鐘內(nèi)建立自己需要的圖形模式。

可測樣品膜層

基本上所有光滑的,。非金屬的薄膜都可以測量,。可測樣品包括：

選擇Filmetrics的優(yōu)勢

• 桌面式薄膜厚度測量

• 24小時電話,，郵件和在線支持

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標準分析軟件

附加特性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費離線分析軟件

• 精細的歷史數(shù)據(jù)功能,，幫助用戶有效存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果