EA8000日立X射線熒光分析儀規(guī)格參數(shù)：

EA8000X日立X射線熒光分析儀特點(diǎn)：

1. 可在幾分鐘內(nèi)對(duì)250×200 mm的樣品檢測(cè)出20 µm的金屬異物

例如要檢測(cè)250×200 mm（約B5尺寸）的電池電極板中20 µm的金屬異物,，以往的X射線透視檢查儀需要十小時(shí)左右的攝像時(shí)間。株式會(huì)社日立*科學(xué)通過新型X射線透視方法的開發(fā),，成功縮短了時(shí)間,。檢測(cè)速度成功達(dá)到了以往的100倍以上，可在3～10分鐘內(nèi)完成

2. 通過圖像處理自動(dòng)檢測(cè)出異物

針對(duì)快速拍攝的250×200 mm的X射線投射圖的整面進(jìn)行快速圖像處理,，自動(dòng)檢測(cè)出異物點(diǎn),。

3. 對(duì)于檢測(cè)出的異物點(diǎn)進(jìn)行自動(dòng)元素分析

日立EA8000X射線熒光分析儀只針對(duì)自動(dòng)檢測(cè)出的 異物點(diǎn)進(jìn)行X射線熒光掃描，自動(dòng)分析元素,。

4. 電極板中的微小金屬元素也可進(jìn)行元素識(shí)別

對(duì)于樣品中檢測(cè)出來的金屬異物,，自動(dòng)通過X射線熒光法進(jìn)行元素識(shí)別。例如,，以往在檢測(cè)電極板中可能存在的20 µm左右的微小金屬異物,，只能分析存在于樣品表面的異物。這是由于存在于內(nèi)部時(shí),，由異物產(chǎn)生的熒光X射線會(huì)被基材所吸收,，信號(hào)強(qiáng)度非常微弱。EA8000通過獨(dú)自研發(fā)的高能量X射線光學(xué)系統(tǒng),，可對(duì)電極,、有機(jī)薄膜內(nèi)部所含的20 µm大小的微小金屬異物進(jìn)行元素分析。

5. 一體化操作，提高工作效率

與以往的技術(shù)相比,，金屬異物的檢測(cè)速度,、元素分析速度大幅提高，并且把顯微鏡等都組合在一臺(tái)儀器內(nèi),，各個(gè)系統(tǒng)聯(lián)動(dòng)可全自動(dòng)輸出測(cè)量結(jié)果,。因此，操作人員只需放置好樣品,，即可獲得測(cè)量結(jié)果,，大大提升了作業(yè)效率。