USPMⅢ 奧林巴斯 鏡片反射率測定儀 USPMⅢ
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 儀景通光學科技（上海）有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號 USPMⅢ
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/1/23 11:27:55
- 訪問次數(shù) 9759
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀
USPM-RU III反射儀可精確測量當前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率,，不會與樣本背
面的反射光產(chǎn)生干涉,。是適合測量曲面反射率、鍍膜評價,、微小部品的反射率測定系統(tǒng),。
消除背面反射光
采用特殊光學系統(tǒng)，消除背面反射光,。
不必進行背面的防反射處理,，可正確測定表面的反射率。
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可測定微小區(qū)域的反射率
用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑（?60 μm）,，可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻,。 -
測定時間短
由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測光機構(gòu)，可以進行快速,、再現(xiàn)性很高的測定,。 -
支持XY色度圖、L*a*b*測定
可以依據(jù)分光測色法,，通過分光反射率測定物體顏色,。 -
可以測定高強度鍍膜的膜厚
采用干涉光分光法，可以在不接觸、無損的情況下測定被檢物的膜厚（單層膜）,。
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