從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定,。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率,，因此適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品,。

測定反射率

測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。

反射率測定光路圖

                      反射率測定例：鏡片                                                 反射率測定例：鏡片周邊部位

測定膜厚

活用反射率數(shù)據(jù),，測定約50nm~約10μm的單層膜,、多層膜的膜厚。

膜厚測定的圖例

測定物體顏色

根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖,、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值,。

物體色的測定圖例

多樣化應(yīng)用

通過測定球面、非球面的鏡片,、濾鏡,、反射鏡等光學(xué)元件的反射率，進行涂層評價,、物體顏色測定,、膜厚測定。

數(shù)碼相機鏡片  /投影儀鏡片 / 眼鏡片

適用于LED反射鏡,、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測定,、膜厚測定。

LED包裝    /半導(dǎo)體基板

適用于平面光學(xué)元件,、彩色濾鏡,、光學(xué)薄膜等的反射率測定、膜厚測定,、透過率測定,。

液晶彩色濾鏡       /光學(xué)薄膜

適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定,。

棱鏡    /反射鏡    

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