原子力顯微鏡FM-Nanoview 1000 AFM采用懸掛式防震系統(tǒng)，可控制測(cè)試環(huán)境中的溫度和濕度,，是我公司針對(duì)納米教學(xué)和科研工廠而設(shè)計(jì)的高性價(jià)比的納米檢測(cè)儀器,。
 
原子力顯微鏡FM-Nanoview 1000 AFM主要功能特點(diǎn)

硬件系統(tǒng)

1,、光機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，外形結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,；

2,、掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，抗干擾能力強(qiáng),；

3,、精密激光定位裝置，使用時(shí)無(wú)需調(diào)節(jié)光斑位置,；

4,、采用精密探針定位模塊，更換探針簡(jiǎn)單方便,；

5,、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描,；

6,、伺服馬達(dá)手動(dòng)或自動(dòng)脈沖控制，驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針,，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位,；

7、高精度大范圍的樣品移動(dòng)裝置,，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域,；

8、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇,；、

9,、帶光學(xué)定位的CCD觀測(cè)系統(tǒng),，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針掃描樣品區(qū)域；

10,、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì),，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；

11,、集成多種掃描工作模式控制電路,，配合軟件系統(tǒng)使用。

12,、彈簧懸掛式防震方式,，簡(jiǎn)單實(shí)用，抗干擾能力強(qiáng)

軟件系統(tǒng)

1,、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×512,；

2,、多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖,；

3,、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能,，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域,；

4、可任意選擇樣品起始掃描角度,；

5,、激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；

6,、可任意定義掃描圖像的色板功能,；

7、支持樣品傾斜線平均,、偏置實(shí)時(shí)校正功能,；

8、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正,；

9、支持樣品圖片離線分析與處理功能,。

主要技術(shù)指標(biāo)

1,、工作模式：接觸、輕敲,、相位,、摩擦力、磁力或靜電力

2,、樣品尺寸：Φ≤90mm,，H≤20mm

3、zui大掃描范圍：橫向20um,，縱向2um

4,、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm

5,、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz

6,、掃描角度：任意

7、樣品移動(dòng)范圍：0～20mm

8,、馬達(dá)趨近脈沖寬度：10±2ms

9,、光學(xué)放大倍數(shù)： 4X

10、光學(xué)分辨率：2.5um

11,、圖像采樣點(diǎn)：256×256,，512×512

12,、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A

13,、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D,、雙16-bit A/D多路同步采樣

14、反饋方式：DSP數(shù)字反饋

15,、反饋采樣速率：64.0KHz

16,、計(jì)算機(jī)接口：USB2.0

17、運(yùn)行環(huán)境：運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)