我公司在標準型原子力顯微鏡FM-Nanoview 6600AFM的基礎上升級原子力顯微鏡FM-Nanoview 6800 AFM，針對標記區(qū)域掃描提供準確的定位系統(tǒng),，增加磁力模塊,，掃描范圍更廣，定位更精確,。

原子力顯微鏡FM-Nanoview 6800 AFM主要功能特點

??硬件系統(tǒng)

1,、光機電一體化設計，外形結構簡單,；

2,、掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強,；

3,、精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節(jié)簡單,，操作方便,；

4、采用樣品趨近探針方式,，使針尖垂直于樣品掃描,；

5、伺服馬達手動或自動脈沖控制,，驅動樣品垂直接近探針,，實現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；

6,、高精度大范圍的樣品移動裝置,，可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域；

7,、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；

8,、帶光學定位的CCD觀測系統(tǒng),，實時觀測與定位探針掃描樣品區(qū)域,；

9、采用伺服馬達控制CCD自動對焦功能,；

10,、模塊化的電子控制系統(tǒng)設計，便于電路的持續(xù)改進與維護,；

11,、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用,。

軟件系統(tǒng)

1、可觀測樣品掃描時的表面形貌像,、振幅像和相位像,；

2、具備接觸,、輕敲,、相位、摩擦力,、磁力或靜電力工作模式,；

3、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512,；

4,、多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖,；

5,、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）,、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能,；

6、可進行掃描區(qū)域偏移,、剪切功能,，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；

7,、可任意選擇樣品起始掃描角度,；

8、激光光斑檢測系統(tǒng)的實時調整功能,；

9,、針尖共振峰自動和手動搜索功能；

10,、可任意定義掃描圖像的色板功能,；

11,、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能,；

12,、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；

13,、支持樣品圖片離線分析與處理功能,。

原子力顯微鏡FM-Nanoview 6800 AFM主要技術指標

1、工作模式：接觸,、輕敲,、相位、摩擦力,、磁力或靜電力

2,、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

3,、zui大掃描范圍：橫向50um,，縱向5um

4、掃描分辨率：橫向0.2nm,，縱向0.05nm

5,、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz

6、掃描角度：任意

7,、樣品移動范圍：0～20mm

8,、馬達趨近脈沖寬度：10±2ms

9、光學放大倍數(shù)：10X

10,、光學分辨率：1um

11,、圖像采樣點：256×256，512×512

12,、掃描控制：XY采用18-bit D/A,，Z采用16-bit D/A

13、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D,、雙16-bit A/D多路同步采樣

14,、反饋方式：DSP數(shù)字反饋

15、反饋采樣速率：64.0KHz

16,、計算機接口：USB2.0

17,、運行環(huán)境：運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)