儀器簡介：

納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術(shù)
隨著顆粒粒徑的減小,，例如分子級別的大小,，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測（PCS）變得更加不確定,。40多年 來,，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應(yīng)用,。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年,，超細顆粒分析儀器 UPA（UltrafineParticle Analyzer）研發(fā)成功,，*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念，快速準確地得到被測體系的納米粒度分布,。2001年,，利 用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技術(shù)，結(jié)合動態(tài)光散射理論和*的數(shù)學(xué)處理模型,，將分析范圍延伸至 0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達百分之四十,，基本實現(xiàn)樣品的原 位檢測。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率,，直接比照因顆粒的布朗運動而產(chǎn)生的頻率漂移,，綜合考慮被測體系的實時溫度和粘度，較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù),，信號強度高出幾個數(shù)量級,。另外，新型“Y”型梯度光纖探針的使用,，實現(xiàn)了對樣品的直接測量,，*的減少了背景噪音，提高了儀器的分辨率,。

主要技術(shù)特點：

采用的動態(tài)光散射技術(shù),，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法;

的異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法,，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,，提高分析結(jié)果的可靠性;

的可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,，確保分析的靈敏度;

超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性;

的快速傅利葉變換算法（FFT,，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm     Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間;

消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染,，分散介質(zhì)的影響,，多重散射的衰減等，提高靈敏度;

技術(shù)參數(shù)：

粒度分析范圍: 0.8nm-6.5μm

重現(xiàn)性：誤差≤1%

濃度范圍：ppb-40%

檢測角度：180°

分析時間：30-120秒

準確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子

測量精度: 無需預(yù)選,，依據(jù)實際測量結(jié)果,，自動生成單峰/多峰分布結(jié)果

理論設(shè)計溫度：0-90℃,，可以進行程序升溫或降溫

兼容性：兼容任何有機溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液

測量原理：

粒度測量：動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理
分子量測量：水力直徑或德拜曲線
技術(shù)：膜電極，微電場電勢測量,，“Y”型光纖探針設(shè)計,，異相多普勒頻移，可控參比方法,，快速傅立葉轉(zhuǎn)換算法,，非球形顆粒校正因子

光學(xué)系統(tǒng)：

3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器，通過梯度步進光纖直接照射樣品,，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,，無需校正光路

軟件系統(tǒng)：

*的Microtrac FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形,，數(shù)據(jù)輸出/輸入,，個性化輸出報告，及各種文字處理功能,，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),，Microsoft Access格式（OLE）等。體積,，數(shù)量,，面積及光強分布，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù),。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,，包括口令保護，電子簽名和*等,。

外部環(huán)境：

電源要求：90-240VAC,，5A，50/60Hz
環(huán)境要求：溫度,，10-40°C
相對濕度：小于95%

配置：

有內(nèi)置和外置光纖測量探頭可選