Nanocalc 系列膜厚測(cè)量?jī)x
- 公司名稱 北京征程創(chuàng)拓科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/11/14 10:03:03
- 訪問次數(shù) 3445
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Nanocalc系列膜厚測(cè)量?jī)x的原理:
利用白光干涉測(cè)量法的原理,,NanoCalc-2000用一個(gè)寬光譜的光源來(lái)測(cè)得不同波長(zhǎng)的反射數(shù)據(jù),由于反射率n和消光系數(shù)k隨膜厚的不同而變化,,NanoCalc-2000根據(jù)這一特性來(lái)進(jìn)行曲線擬合從而求得膜厚,。在NanoCalc-2000中,不同類型材料的相應(yīng)參數(shù)通過不同的模型來(lái)描述,,從而保證了不同類型材料膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性,。
Nanocalc系列膜厚測(cè)量?jī)x的特點(diǎn):
- UV/VIS/NIR高分辨率的配置
- 測(cè)量準(zhǔn)確度在1nm,精度在0.1nm
- 可測(cè)量4層薄膜的任意3層
- 薄膜測(cè)量zui小可至10nm,,zui大可至400um
- 可測(cè)量zui小1nm厚的透明金屬層
- 提供用于復(fù)雜外形材料測(cè)量的試驗(yàn)臺(tái)及附件
- 對(duì)表面缺陷和光滑度不敏感
- 龐大的材質(zhì)數(shù)據(jù)庫(kù),,保證各種材料的精確測(cè)量
NanoCalc-2000-UV/VIS/NIR膜厚測(cè)量?jī)x的技術(shù)參數(shù):