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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>其它測厚儀 > 博曼BA100線路板X-RAY膜厚測試儀
電鍍膜厚儀X射線
聯(lián)系方式:張丹
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金東霖科技是美國博曼(BOWMAN)XRF鍍層測厚產(chǎn)品在華的總代理及維修服務(wù)中心。是香港金霖公司于2010年在國內(nèi)投資成立的全資子公司,,質(zhì)憑借與世界各大儀器的戰(zhàn)略合作關(guān)系,,以及不斷優(yōu)化公司自身管理,金東霖在檢測分析儀器領(lǐng)域有很高的度,,特別是鍍層測厚領(lǐng)域更是行業(yè)中的專家,。
我們所提供的產(chǎn)品均屬于高科技高附加值產(chǎn)品,,包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產(chǎn)設(shè)備,,以及配套的耗材和配件,,這些產(chǎn)品廣泛應用于電鍍、PCB,、電子,、五金、半導體,、工業(yè),、太陽能、醫(yī)藥,、醫(yī)療器械,、生物、能源,、電子,、研究所、檢測機構(gòu)等,。 金東霖不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品,,更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、技術(shù)和售后服務(wù)團隊,,本著客戶*的原則,,以滿足客戶需求、創(chuàng)造客戶增值為已任
鍍層測厚儀
是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng),。
可應用于在線膜厚測量,測氧化物,SiNx,感光保護膜和半導體膜.也可以用來測量鍍在鋼,鋁,銅,陶瓷和塑料等上的粗糙膜層. 薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關(guān),因此可通過計算得到薄膜的厚度.光干涉法是一種無損,精確且快速的光學薄膜厚度測量技術(shù),薄膜測量系統(tǒng)采用光干涉原理測量薄膜厚度,。
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