Analyze FT-IR光譜儀 實驗室傅立葉 FT-IR光譜儀
參考價 | ¥ 18 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 杭州格圖科技有限公司
- 品牌
- 型號 Analyze FT-IR光譜儀
- 產(chǎn)地 加拿大
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2016/3/21 18:57:58
- 訪問次數(shù) 3519
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傅立葉FT-IR光譜儀
兌現(xiàn)FT-IR的承諾
l 靈敏度-zui大信噪比>100000:1rms持續(xù)信號平均值,。
l 基線穩(wěn)定性——短期*線的偏差<0.1%,;——無*漂移,;——溫度系數(shù):,1%/℃在4000cm-1處。
l 凈化穩(wěn)定性——<0.0001A采用*的水蒸氣波動時延zui小的Arid—Zone干取樣室,。
l 分辨率優(yōu)于1cm-1,。
l 3年內(nèi)無需進(jìn)行計劃性維護(hù):掃描儀終生保修。
l 配備基于Windows的數(shù)據(jù)處理和分析軟件,。
FTLA2000-100
經(jīng)濟型高性能FT-IR
FTLA2000-100型產(chǎn)品是極其成功的FTLA2000系列實驗室FT-IR光譜儀產(chǎn)品家族中的中紅外產(chǎn)品,。該產(chǎn)品的光譜性能高于其它價格相當(dāng)?shù)?/font>FT-IR產(chǎn)品。由于采用了*性工廠校準(zhǔn)和密封技術(shù),,FTLA2000系列產(chǎn)品具有非常穩(wěn)定的光譜響應(yīng)性,,其光譜再現(xiàn)性高于NIST標(biāo)準(zhǔn)參考資料1921中規(guī)定的驗證指標(biāo)。分析曲線可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀轉(zhuǎn)移至另一臺光譜儀,,無需任何調(diào)整,。
FTLA2000-100可與您的所有優(yōu)選附件兼容,尤其是Spectra-Tech ARK(衰減全反射套件)和GEMINI混合式ATR和漫反射附件,。建議在對膏劑,、普通和粘性液體進(jìn)行分析時使用ATR,對粉狀樣品進(jìn)行分析時建議使用漫反射方式(DRIFT),。
FTLA2000-102
用于遠(yuǎn)紅外分析的zui高靈敏度FT-IR光譜儀
FTLA2000-102型光譜儀代表著中紅外和遠(yuǎn)紅外光譜儀在可靠性和性能規(guī)格方面的新標(biāo)準(zhǔn)。FTLA2000系列干涉儀器*的構(gòu)造,,造就了Csl光學(xué)裝置多年連續(xù)*使用的輝煌歷史,。其在200cm-1至700cm-1區(qū)段內(nèi)的穩(wěn)定性和信噪比高于配備聚酯薄膜或柵格式光束分離器的FT-IR光譜儀。DTGS檢測器配備了Csl窗,,因此僅需簡單設(shè)置,,即可覆蓋整個波長范圍。Arid-Zone干區(qū)樣品室高效而穩(wěn)定的吹掃技術(shù),,對于水蒸氣吸收特別強的200cm-1波段的可靠運行具有至關(guān)重要的作用,。光譜再現(xiàn)性超過了NIST標(biāo)準(zhǔn)參考資料1921中規(guī)定的驗證指標(biāo)。分析標(biāo)準(zhǔn)曲線無需任何調(diào)整即可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀傳輸至另外一臺光譜儀,。FTLA2000-102zui適于利用Csl粉?;颡毩⑹綕崈舯P對催化劑中弱離子鍵進(jìn)行分析研究。各種液體的分析可在配備Csl或聚乙烯窗的檢測池中進(jìn)行,。對于漆料碎屑或其他小型樣品的分析,,建議使用經(jīng)過吹掃的聚光器在金剛砧座中進(jìn)行。
FTLA2000-104
對濕度不敏感的FT—IR光譜儀
FT—IR讓您,!
作為ABB極其成功的FTLA2000系列實驗室FT-IR光譜儀產(chǎn)品家族中的一員,,FTLA2000-104型光譜儀僅使用非吸潮性光學(xué)器件,zui適于在無法保證低濕度的環(huán)境中使用,,已經(jīng)在生產(chǎn)線旁QA分析和各種現(xiàn)場環(huán)境下的便攜式分析應(yīng)用領(lǐng)域得到成功應(yīng)用,。該產(chǎn)品具有*的靈敏度,,波長范圍在6500至500cm-1。光譜再現(xiàn)性超過了NIST標(biāo)準(zhǔn)參考資料1921中規(guī)定的驗證指標(biāo),。分析標(biāo)準(zhǔn)曲線無需任何調(diào)整即可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀傳輸至另外一臺光譜儀,。
更換已退化的吸潮 光學(xué)器件,是FT-IR光譜儀zui頻繁和zui昂貴的維護(hù)項目,。但是,,FTLA2000-104型產(chǎn)品不再需要進(jìn)行此項維護(hù)。您不用再對光譜儀憂心忡忡,,盡可將精力集中于分析工作,。
FTLA2000-154S
測量范圍更寬對濕度不敏感的FT-IR光譜儀
FT—IR讓您!
作為ABB極其成功的FTLA2000系列實驗室FT-IR光譜儀產(chǎn)品家族中的一員,,FTLA2000-154S型光譜儀僅使用非吸潮性光學(xué)器件,,zui適于在無法保證低濕度的環(huán)境中使用,已經(jīng)在生產(chǎn)線旁QA分析和各種現(xiàn)場環(huán)境下的便攜式分析應(yīng)用領(lǐng)域得到成功應(yīng)用,。該產(chǎn)品具有*的靈敏度,,波長范圍在6500至500cm-1。光譜再現(xiàn)性超過了NIST標(biāo)準(zhǔn)參考資料1921中規(guī)定的驗證指標(biāo),。分析標(biāo)準(zhǔn)曲線無需任何調(diào)整即可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀傳輸至另外一臺光譜儀,。
更換已退化的吸潮 光學(xué)器件,是FT-IR光譜儀zui頻繁和zui昂貴的維護(hù)項目,。但是,,FTLA2000-154S型產(chǎn)品不再需要進(jìn)行此項維護(hù)。您不用再對光譜儀憂心忡忡,,盡可將精力集中于分析工作,。
FTLA2000-160
近紅外分析FT-IR光譜儀
FTLA2000-160D型光譜儀是近紅外分析領(lǐng)域具有zui出眾的FT-NIR準(zhǔn)確性、重復(fù)性和穩(wěn)定性的*,。該產(chǎn)品是專門針對經(jīng)濟的近紅外分析作業(yè)而設(shè)計的,,內(nèi)置石英鹵素光源和檢測范圍更大的DTGS檢測器。這一組合為大多數(shù)樣品室分析作業(yè)獲得優(yōu)異的分析結(jié)果創(chuàng)造了條件,。在散射性較強的樣品的取樣,。漫反射取樣和光纖耦合取樣中,建議選用TE—制冷型InAvs檢測器,,不同儀器自檢的光譜再現(xiàn)性與重復(fù)性非常接近,,這對于開發(fā)多臺FT-IR參與的分析方法具有重要作用。分析標(biāo)準(zhǔn)曲線無需任何調(diào)整即可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀傳輸至另外一臺裝置,。
FTLA2000-160D型光譜儀為用來確定OH值的HOval分析儀奠定了基礎(chǔ),。采用溫控、一次性小玻璃瓶的取樣技術(shù)zui適于用來分析具有較苛刻分析要求的有機液體樣品,。粉末狀樣品的近紅外分析可使用powderSamplir完成,。樣品質(zhì)地粗糙時,,建議使用漫反射方式Diffusir。
FTLA系列FT-IR光譜儀的技術(shù)規(guī)格和特點
產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格
- *分辨率:0.7cm-1,,無切趾
- 波數(shù)再現(xiàn)性:中紅外型:.01cm-1在1918cm-1
處近紅外型:0.04cm-1在7300cm-1
處波數(shù)重復(fù)性:±0.002cm-1(±2σ)
- 標(biāo)準(zhǔn)曲線傳輸性測試:所有NIR型均可在28℃±1的溫度條件下在0.5mm試驗池中再現(xiàn)甲苯吸收光譜(4100-6000cm-1),,與其他任一NIR儀器相比偏差不超過0.002A
- 在掃描時間為1分鐘、分辨率為4cm-1和開放式光束的條件下,,FTA2000-100型在峰值響應(yīng)度喜愛的典型中紅外型號與RMS-噪聲比為30,,000:1
- 在掃描時間為1分鐘,分辨率為16cm-1和開放式光束的條件下,,峰值響應(yīng)度下的典型近紅外RMS-噪聲吸收率為4micro-A.
- 連續(xù)2次檢測,,MIR型和NIR型光譜儀的*線再現(xiàn)性均在0.1%以內(nèi)(范圍分別為4000至550cm-1和8000至4500cm-1).
- 溫度變化是*影響*線*穩(wěn)定性的一個因素。*線變化的溫度系數(shù)為:近紅外型光譜儀在8000cm-1處和中紅外型光譜儀在4000cm-1處均為1%/1℃,。
- 分辨率可按2X步長從1(NIR為2)至64cm-1(變跡分辨率)的范圍內(nèi)選擇,。
- 兩次掃描時間可選擇:分辨率為4cm-1時,DTGS檢測器為3秒,,快速半導(dǎo)體檢測器為1.2秒,。
- Arid-Zone干區(qū)樣品室的伸縮式吹掃管中的逆流式吹掃流可對樣品進(jìn)行連續(xù)吹掃。Arid-Zone采用“開放式結(jié)構(gòu)”,??蔀楦鞣N附件提供充足空間。
- 紅外光束對樣品的焦距為f/4.5,。
- 紅外光束對樣品的額定焦距為5mm,。
- 光束截捕處的光束直徑為2.5cm。
- zui大光束發(fā)散度:90豪弧度,。
- 樣品焦距為底座以上3.5in(8.9cm)。
- 附件自由空間為樣品焦距每側(cè)4in(10cm),。
- 總尺寸:20''(寬)×22-1/4''(深)×12''(高)(51cm×56cm×30cm)
- 重復(fù):97ibs.(44kg),。
干涉儀
- 四端口光學(xué)設(shè)計,消除了反調(diào)制引發(fā)的假象問題,。
- 干涉儀采用設(shè)計的邁克遜干涉儀,,在一個“Y型”叉骨式擺臂上安裝了2個直角反射鏡。
- 干涉儀和輸入/輸出光學(xué)裝置在工廠已預(yù)先校準(zhǔn),,用戶無需做任何調(diào)節(jié),。
- 通過旋轉(zhuǎn)安裝在由感應(yīng)電機驅(qū)動的曲樞軸承上的擺臂,即可實現(xiàn)平滑,、恒速和無擾動掃描,。
- 掃描裝置享受終生損壞和磨損保證。
- 擺臂已經(jīng)過平衡處理,,可以任何方向操作,。
- 自補償,、單板光束分離器/補償器。
- zui大掃描長度為中心前后1cm光程,。
- 掃描模式:正反雙向獲得的雙面干涉圖,。
- 氦氖參考激光,可用于:數(shù)字化取樣,、反射鏡速度控制,、掃描方向的正交檢波及光程差確定中的條紋計數(shù)。
- 加電時白光零光程差的自動定位,。
- 配備翻版機構(gòu)的對角反射鏡,,可切換到側(cè)口光束。
干涉儀機箱
- 干涉儀模塊,,控制電子裝置,、電源裝置、光源和光源機電供電裝置均安裝在一個鋁陶機殼中,,機殼上下兩個半部用螺栓緊固在一起并用O型環(huán)密封,。
- 儀器左側(cè)設(shè)置了可選輸出或發(fā)射端口。
- 封閉箱體為帶有狀態(tài)指示器的易換型插入式卡盒,,可保持干燥,。
- 用戶可通過光源檢查口來完成光源檢查口來完成光源的更換。
- 配置吹掃如口擴散器的,。
- 電源,、開關(guān)、保險絲,、數(shù)據(jù)纜和狀態(tài)指示燈的接口設(shè)置在儀器背面右側(cè)的側(cè)壁上,。
數(shù)據(jù)采集
- 單板電子模塊可提供:具備ZPD同步功能的掃描啟動邏輯,通過檢測器模塊上的"特制"切換開關(guān)來選擇2種掃描速度,,雙定向德連接,、內(nèi)置樣品盒支架、zui高速率為100KHZ的16位ADC,,并行數(shù)據(jù)傳輸,。
計算機接口
- 所有PC機必須為486、DX66或以上配置,,可由ABB提供或客戶自備,。
軟件
- Win Easy軟件,基于windows的光譜數(shù)據(jù)采集,、顯示和處理程序,。
- 可運行于windows95、98/2000/XP和NT下的光譜軟件,。
- 可選PLS和PCR定量軟件包,。
- 可選質(zhì)量控制軟件包(AIRS),。
- 可選交鑰匙工業(yè)自動化分析程序(CAAP)。
- 與Spreadsheet和word軟件兼容,。
運行環(huán)境
- 交流輸入電壓:120或240V,,手動選擇。
- 功耗:150w,。
- 環(huán)境溫度:不工作時為-15℃至50℃,;工作時為0℃至30℃。
- 相對濕度(工作時):FTLA2000-104,、FTLA2000-154S和FTLA2000-160D型為0%至95%,,無冷凝;FTLA2000-100和FTLA2000-102型為0%至40%,,無冷凝,。
產(chǎn)品規(guī)格若有更改,恕不另行通知,。
型號 | 內(nèi)部光源 | 光學(xué)器件 | 檢測器 | 光譜范圍cm-1 |
FTLA2000-100 | sic | kBr | DTGS | 6,500-350 |
FTLA2000-102 | sic | Csl | DTGS | 5,000-200 |
FTLA2000-104 | sic | ZnSe | DTGS,、ZnSe窗 | 6,500-500 |
FTLA2000-154S | 雙sic/NIR | ZnSe | MiR-NiR DTGS、ZnSe窗 | 12,000-500 |
FTLA2000-1600 | NIR | BK7 | NIR DTGS | 14,000-3,800 |