BeamScope-P8激光光束分析儀
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
|---|
BeamScope-P8激光光束分析儀
狹縫掃描
波長范圍： 190-1100nm
800-1800nm
1.5-3.5um
分辨率 2um
最小光束 100um
掃描區(qū)域 5*7mm-Si
3mm-Ge
3mm-InGAS
結合二維運動臺 23*43mm
典型應用
à 激光/二極管激光表征
à 激光組件開發(fā),、對準、表征、生產測試和品控,。
à 如下應用的激光器和激光器組件：
- 磁盤/晶圓表征
- 激光打印/打標
- 醫(yī)療激光
- 條形碼掃描儀等,。
即時的：
à X-Y 輪廓測量
à 發(fā)散角
à 橢圓、質心,、高斯擬合
à 相對功率
特征：
à 光束尺寸 100um至 45 mm
à 分辨率 2um 或 范圍的0.5 %
à 190 nm 至 3.5um 可項
à M2 測量附件
à 符合 ISO 11146
à 適用于密閉空間的窄探頭
à 前置光闌
à 寬動態(tài)范圍
à 功能強大,、直觀的軟件
à 升級選項，BeamScope-P7 至 USB 2.0
配件和選項
à M2 測量附件-USB 2.0
à UV - NIR 選項 190 至 3.5 µm
à 2-D 掃描平臺,，用于 23 x 45 mm 輪廓分析
BeamScope-P8 系統(tǒng)包括：一個緊湊測頭,、接口盒、一根3 m (10 ft.) USB 2.0 線纜,、用戶手冊和適用于 Windows XP,、Vista 或 Windows7 的軟件。
工作原理：線性掃描探頭帶有單個針孔,、單個狹縫或正交 X-Y 狹縫,。這種線性掃描滿足 ISO 11146 激光輪廓標準的嚴格要求。穿過狹縫的光落在硅（190 至 1150 nm）或鍺（800 至 1800 nm）探測器上,。 [* 在推出 DataRay BeamScope 光束分析儀之前,，沒有市售的狹縫掃描或刀刃掃描光束分析儀符合 ISO 11146 標準。該標準要求在與傳播軸正交的平面上進行掃描,。鼓式掃描儀不符合標準,。 DataRay *的線性掃描探頭的設計*符合標準。]
獲取狹窄區(qū)域的光束輪廓BeamScope-P8 使曾經難以測量的光束輪廓的測量不僅成為可能,，而且變得簡單,。*的探頭式掃描頭可輕松觀察透鏡、反射鏡和濾光片之間狹窄的軸向間隙,。它能夠探測窄至 12 毫米的沿軸空間,，開創(chuàng)了一個全新的應用場景。
沒有來自光學元件或濾光片的光束失真
光束不會因輔助光學元件或濾光片而失真,，因為 BeamScope-P8 在分析大多數類型的激光器時不需要它們,。 AUTO GAIN 功能可以連續(xù)調整探測器放大器增益，以確保充分利用 55 dB (300,000:1) 增益范圍,?？梢詮膯蝹€掃描頭測量 3um 到 23 mm 的光斑尺寸。結合新的 2-D 運動臺附件掃描高達 23 x 45 mm 的光束區(qū)域,。
前置光闌
前置光闌使您能夠準確地看到光束被測量的位置,。如果您可以靠近光源，快速發(fā)散和快速聚焦的光束很容易捕獲?，F在測量激光二極管陣列,、微透鏡源,、寬條紋激光器等比以往任何時候都更容易?？捎玫?/span>光闌可以在針孔孔徑上容納高達 100 W/mm2 的功率密度,。 （最大總功率 = 0.5 W）在幾分鐘內將孔徑從狹縫變?yōu)獒樋住＿@賦予了 BeamScope-P8 成為光束分析儀中良好的價值,。
帶 USB 2.0 的筆記本電腦便攜性
BeamScope 將接口插入您的筆記本電腦上的 USB 2.0 端口,，以提供占用空間小的便攜式設備。
研發(fā),、品控和生產的良好選擇
研發(fā)用戶將感受全面的分析功能,。 QA 和生產工程師會喜歡將測試配置保存為 JOB 文件并在屏幕上指示通過/失敗的功能。
良好的 M2 測量
BeamScopeTM P8 可選 M2DU-P8 附件不同于市場上的任何其他附件,。沒有復雜的調整,，但用戶可以實現高度可重復的測量。該軟件會自動在腰部區(qū)域進行更頻繁的測量,，以準確確定真實的束腰直徑,。
23 x 45 mm 2-D 掃描臺
DataRay 最新的光束分析創(chuàng)新技術可在高達 23 x 45 毫米的光束區(qū)域上提供非凡的 0.2%（512 x 512 像素）分辨率，小至 5 x 5um (HxV),。二維掃描結果顯示在用于區(qū)域圖像分析的集成成像軟件中,。
光束范圍 | P8產品規(guī)格 [如有更改，恕不另行通知.] |
可測得對象 | CW 或脈沖激光 > 5kHz 脈沖重復率 @ 5% 占空比,。 PRR越高越好,。 |
測量光束功率 | 請參閱下面注釋中的圖表。 例如,。 6 uW 至 3 W,，對于 1 mm 直徑 (1/e2 ) 高斯光束 @ 633 nm，5um 狹縫,。 |
光學動態(tài)范圍 | 55 dB (= 300,000:1) [75 dB 使用中性密度 2.0的衰減片] |
最大掃描形狀 區(qū)域 針孔（PA系列） 單狹縫（SS系列） X-Y 狹縫（XY 系列） 二維運動臺 (M2B) | 重要提示：為了準確測量,，光束寬度應 < 0.5 x 掃描尺寸 使用 /EPH 擴展探頭時，以下 23 毫米的尺寸變?yōu)?35 毫米,。 形狀 交叉掃描 x 掃描長度 線掃描 針孔直徑 x 23 mm 矩形 7* x 23 毫米,，（* 5 用于 Ge，3 用于 InAs） 梯形 5* x 15/5 mm,，（* 3 用于 Ge,，2 用于 InAs，3.5 x 13.5/6.5 用于 XYPl5） 矩形 45 x 23 毫米掃描區(qū)域圖像,。 在該區(qū)域掃描針孔,。 |
可測量的光束直徑/寬度 | 100um 至 ~ 25 毫米。 定義為 1/e2 直徑,，= 高斯光束峰值的 13.5%） |
測量分辨率 | 2um 或測量光束直徑的 0.5 %,，以較大者為選項 |
測量精度 | ±±2um或者測量光束直徑的 ±2% |
測量的光束輪廓 | X & Y 線性和對數輪廓顯示模式 |
測量的輪廓參數 | 高斯光束直徑 高斯擬合 二次力矩光束直徑 刀口光束直徑 質心的相對和絕對位置， 橢圓度 + 主軸方向 光束漂移顯示 |
顯示的配置文件 | 僅 X,、僅 Y,、X 和 Y 二維圖（10,16 或 256 色）重構見注 1 3-D 繪圖（10,16 或 256 色）重構見注 1 |
更新率 | 1 到 2Hz。 取決于 PC 處理器速度,、掃描的配置文件和選定的選項 |
數據分析 通過/失敗 平均 標準差 | 在所有測量參數上,，在屏幕上，以可選的通過/失敗顏色顯示 光束直徑運行平均和累積平均選項 在累積平均屏幕上 |
功率測量 | 單位為 mW,、dBm,、dB、% 或用戶輸入（相對于用戶提供的參考測量,。） |
光源到狹縫距離 | 最小 1.0 毫米 |
孔徑大小 狹縫 針孔 | 重要提示：有關可測量的光束尺寸,，請參見掃描區(qū)域（前述），請參見注釋 2 2.5,、5,、10、25 和 100um 寬 7 毫米長 （5 um 狹縫的平面版為 5 毫米長） 5, 10, 25 和 50um 直徑（更大或更小的針孔,，特殊訂單）見注 2 |
波長范圍 硅探測器 鍺探測器 砷化鎵 | 190 to 1150 nm 800 to 1800 nm 1.5 to 3.5 µm |
安裝 | ?-20 & M6 螺紋安裝孔 |
溫度范圍（包括附件） 操作 貯存 | 10oto 35℃ 5 to 45℃ |
zhui低電腦要求 PC 或 Intel-Mac | USB2.0 端口,，Windows XP、Vista 或 Windows 7,； 1024 MB 內存,； 10 MB 硬盤空間； 1024 x 768 顯示器,。 |
注：
1. 2-D 和 3-D 輪廓是通過 X-Y 掃描“重建”的,，假設測量的 X 光束輪廓對于所有 Y 值都相同，并且測量的 Y 光束輪廓對于所有值X都相同,。
2. 在單縫或針孔模式下,，縫/針孔寬度應小于等于被測光束直徑的1/3。對于傾斜±45° 的 X-Y 狹縫對,，該比率約為 1/5,。
3. 在刀刃模式下，狹縫寬度應大于等于光束直徑的 3 倍,。對于以±45° 傾斜的 X-Y 狹縫對,，該比率是不小于光束直徑的4.3 倍。
功率限制,。該圖允許您簡單地確定 BeamScope 可以在沒有額外衰減的情況下測量的近似最大光功率,。該限制是探測器電流限制。
PxS 是以瓦特為單位的功率限制,。
計算激光波長的功率極限：
該圖顯示了直徑為 100 μm 的光束 (1/e2 ) 和 5 μm 狹縫的近似飽和光束功率（以 mW 為單位）與波長的關系,。
1) 確定波長的標繪值 PS mW,。 （例如 633 nm 時為 70 mw）
2) 對于不同的狹縫或光束，將 PS 乘以：0.05.(光束直徑,，μm)/(狹縫寬度,，μm)
3) 對于針孔，將 PS 乘以0.05 x（光束直徑,，μm）2 /（針孔直徑μm）2
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