您購(gòu)買數(shù)顯磁性測(cè)厚儀時(shí)對(duì)產(chǎn)品存有疑慮,，請(qǐng)致電我公司銷售部，將對(duì)您的疑慮進(jìn)行解答,。數(shù)顯磁性測(cè)厚儀包裝,、注冊(cè)商標(biāo)等符合國(guó)家有關(guān)規(guī)定。上海魅宇圍繞客戶的需求持續(xù)創(chuàng)新,，與合作伙伴開(kāi)放合作,，在儀器領(lǐng)域構(gòu)筑了解決方案優(yōu)勢(shì)。我們致力于為儀器行業(yè)提供有競(jìng)爭(zhēng)力的綜合解決方案和服務(wù),，持續(xù)提升客戶體驗(yàn),，為客戶創(chuàng)造大價(jià)值。

相關(guān)設(shè)備板尺寸穩(wěn)定性測(cè)定儀

參數(shù)：
■測(cè)量范圍： O-200μm,。
■執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 ,、GB/T13452.2-92 ,、ISO2808-74,。
■測(cè)量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。

測(cè)厚儀原理分類：
測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同,，可大致分為：
1,、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分：
■點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
■面接觸時(shí)測(cè)厚儀

2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同,，又可分為以下幾種：
■激光測(cè)厚儀
■超聲波測(cè)厚儀
■涂層測(cè)厚儀
■X射線測(cè)厚儀
■白光干涉測(cè)厚儀
■電解式測(cè)厚儀

測(cè)厚儀應(yīng)用：
■薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜,、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬,、測(cè)量精度高,，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零,、公英制轉(zhuǎn)換,、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

■涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度,。

■超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭,，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度,。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

■激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理,，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度,，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備,。

■X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度,，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器,。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),，達(dá)到要求的軋制厚度,。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜,、紙張,、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

用途：
該測(cè)厚儀測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度,。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定,。