CMI 900/950型 X-射線膜厚測量儀    

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成,、貴金屬含量檢測等領域,，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析,?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的全面自動化控制,，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設定,。可同時測定zui多5層,、15種元素,。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求,；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表,、測定位置的圖象、CAD文件等,。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值,、誤差分析、zui大值,、zui小值,、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差,、UCL(控制上限),、LCL(控制下限)、CpK圖,、直方圖,、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀,、各種尺寸的樣品,；并且測量點zui小可達0.025 x 0.051毫米。