自動對準(zhǔn)

自動光譜橢偏儀SENDURO®所有的全自動光譜橢偏免除了用戶根據(jù)高度和傾斜度手動地對準(zhǔn)樣品的麻煩,，這對于高精度和可重復(fù)的光譜橢偏是必要的,。該自動對準(zhǔn)傳感器大大減少了操作誤差,，適用于透明和反射樣品，即使在彎曲的樣品上也可實(shí)現(xiàn)自動掃描,。

操作簡單

配方模式非常適合于生產(chǎn),，工藝監(jiān)控以及研發(fā)的常規(guī)應(yīng)用。該光譜橢偏儀帶有隨機(jī)可的配方數(shù)據(jù)庫,，可以根據(jù)您的具體需要對其進(jìn)行修改,。

步進(jìn)掃描分析器

自動光譜橢偏儀SENDURO®步進(jìn)掃描分析器SSA是SENTECH光譜橢偏技術(shù)的一個特征。分析樣品的總時間只需幾秒鐘,。

SENDURO® 可測量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度,。SENDURO® 自動掃描則實(shí)現(xiàn)了較高的樣品速度，化安裝工作量和低的維護(hù)成本,。該光譜橢偏儀的自動掃描具有預(yù)定義或用戶定義的模式,、允許廣泛的統(tǒng)計(jì)特性和數(shù)據(jù)圖形顯示。

SENDURO® 是SENTECH自動化,，占地面積小,，設(shè)計(jì)緊湊的橢偏儀的代表。測量臺包括橢偏儀光學(xué)部件,、自動傾斜和高度傳感器,、電動樣品臺和控制器電子設(shè)備，它們?nèi)烤o湊的組合,。為了達(dá)到更高產(chǎn)量的要求,，我們的光譜橢偏儀也提供了片盒站裝載尺寸到300 mm的大晶片。

SENDURO® 以其高樣品測量速度,，易于操作和自動對準(zhǔn)在工業(yè)應(yīng)用中表現(xiàn)出色。應(yīng)用范圍從半導(dǎo)體上的介質(zhì)膜到玻璃上的多層光學(xué)涂層,。

SENDURO® 優(yōu)異的光譜橢偏軟件具有配方模式和工程模式,。配方模式致力于重復(fù)應(yīng)用程序的簡單執(zhí)行。密碼控制的用戶登錄允許不同級別的用戶登錄,。在交互模式下,，橢偏測量通過交互式的，指導(dǎo)性的圖形用戶界面得到增強(qiáng),。此外,，可以使用材料數(shù)據(jù)庫和散射模型修改已經(jīng)存在的配方或建立新的配方。